Occasion NIPPON NAFS-3070P #9078494 à vendre en France

NIPPON NAFS-3070P
ID: 9078494
Style Vintage: 2007
Non-contact 3D measurement device, 2007.
L'équipement NIPPON NAFS-3070P d'essai de plaquettes et de métrologie est un outil efficace pour un large éventail de tâches dans les industries semi-conductrices et connexes. C'est un système multidimensionnel, capable d'effectuer des essais électriques et des inspections optiques de plaquettes et d'autres composants pour l'intégration logique moderne et les applications MEMS. Les capacités d'essai de wafer de NAFS-3070P comprennent la mesure des paramètres des IC des dispositifs de puissance, les mesures du bruit, les essais de résistance thermique et de haute tension pour 100V, ainsi que les caractéristiques de commutation à hautes fréquences. L'unité comprend jusqu'à six canaux de test et jusqu'à quatre modules de mesure, avec un module de balayage à grande vitesse pour chaque canal capable de tester jusqu'à 60 appareils par seconde. Les capacités d'inspection optique de NIPPON NAFS-3070P utilisent des technologies avancées de microscopie, d'inspection optique, d'imagerie 3D et de traitement d'imagerie. Il offre la possibilité de capturer des images haute résolution avec jusqu'à 1000x grossissement différentiel en une seule prise de vue. Il est également équipé d'une machine auto-focus intégrée qui lui permet de prendre plusieurs trames pour chaque échantillon sans avoir à réinitialiser le focus pour chaque échantillon. NAFS-3070P offre également une interface utilisateur avancée qui permet aux utilisateurs de configurer rapidement les tests, d'affecter les paramètres de mesure et de saisir les données. L'outil offre une large gamme de capacités d'exportation de rapports, y compris les IFRS et les feuilles de calcul EXCEL. De plus, NIPPON NAFS-3070P dispose de capacités complètes de gestion des données qui permettent de stocker et d'accéder rapidement et facilement aux données. NAFS-3070P wafer testing and metrology asset est un outil extrêmement puissant et polyvalent pour toutes sortes d'applications semi-conductrices et connexes. Il offre des performances fiables et efficaces, et est économique et facile à utiliser. Avec ses capacités d'inspection optique avancées, ses capacités complètes de stockage et de gestion de données, NIPPON NAFS-3070P est un excellent choix pour les entreprises de semi-conducteurs, les laboratoires de recherche et d'autres entreprises similaires.
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