Occasion NOVA i550 #9356921 à vendre en France

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ID: 9356921
Style Vintage: 2018
Integrated metrology systems 2018 vintage.
NOVA i550 est un produit d'essai et de métrologie de wafer de pointe de SPTS/Oxford Instruments. L'équipement est conçu pour les essais, l'inspection et la métrologie avancés du niveau des plaquettes pour l'industrie des semi-conducteurs. Il offre une gamme d'outils et de capacités pour optimiser le rendement et les performances des plaquettes. Le système est équipé d'une station d'interface interactive multi-niveaux de 150 mm qui offre un chargement automatisé et intuitif des plaquettes, avec des stratégies de test manuelles ou entièrement automatisées. Il peut accueillir jusqu'à 150 mm de substrats avec la possibilité de l'adapter à 200 mm à l'avenir. L'unité est adaptée aux exigences de l'application spécifique du client avec une gamme de configurations de test, telles que sondes RF, capteur de température et d'humidité, et une gamme de sondes optiques. Il est également équipé d'outils avancés de métrologie optique, tels que la microscopie à cohérence optique 3D (OCM) et la photoluminescence (PL), ainsi que d'une gamme de solutions de photolithographie et de gravure pour des structures de dispositifs avancées. Cela permet de visualiser, mesurer et caractériser avec précision les défauts des plaquettes jusqu'au niveau du sous-micron. D'autres caractéristiques de i550 comprennent une suite logicielle complète d'outils de test de plaquettes, qui permet des taux rapides d'acquisition de données et de traitement des données, permettant d'identifier rapidement et facilement les zones de processus et de défauts liés à la plaquette. Ces données peuvent ensuite être utilisées pour ajuster le processus au besoin. La machine prend également en charge la planification automatique des tests et une interface intuitive pour un fonctionnement continu, lui permettant de s'intégrer de manière transparente dans n'importe quelle ligne de production. De plus, NOVA i550 offre des capacités de métrologie avancées qui permettent une analyse rapide et fiable de structures petites et difficiles à mesurer. La combinaison de la conception prête à la production, des outils avancés de test et de métrologie, l'interface utilisateur intuitive et une grande variété de paramètres de test font i550 un choix idéal pour les procédés avancés de fabrication de plaquettes et la recherche sur les semi-conducteurs.
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