Occasion NOVA NovaScan 3090 Next SA #293638911 à vendre en France

NOVA TireScan 3090 Next SA est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie de NOVA Technologies. Ce système est conçu pour fournir des tests efficaces et précis des plaquettes semi-conductrices avec la capacité d'exécuter plusieurs techniques. Il offre la capacité de tester simultanément différentes régions d'une seule plaquette, ainsi que des tests au niveau de la plaquette ou de la matrice. À l'aide d'une combinaison de matériel et de logiciels, NOVA-Scan 3090 est capable de mesurer des paramètres au niveau des plaquettes tels que la résistance des feuilles et les concentrations de dopage. Il fournit également des fonctions de mesure intégrées pour la mobilité des électrons et des trous, des états d'interface locaux et d'autres paramètres spécifiques. De plus, l'unité offre une imagerie directe et des mesures de capacités passives en plein champ. La machine est modulaire et a la flexibilité nécessaire pour être configurée en fonction des exigences spécifiques de métrologie de chaque utilisateur. Il prend en charge plusieurs types de stations, y compris un prober automatisé, et peut être mis à niveau avec différentes options matérielles. En outre, l'outil peut être mis à jour avec un logiciel spécialisé qui élargit ses capacités de CMP, de structuration et de caractérisation des appareils. La carte complète des wafers est la carte NOVA de la Scan 3090 qui fournit la mesure la plus précise des caractéristiques des wafers. Il dispose également de trois niveaux d'optimisation d'image qui permettent une meilleure analyse de la topographie de la plaquette. Enfin, une chambre de traitement MultiStation fournit jusqu'à 5 procédés de post-métrologie à base d'ammoniac, permettant à l'utilisateur d'effectuer plusieurs opérations de nettoyage et de recuit dans le même atout. NOVA TireScan 3090 est un modèle moderne et avancé qui fournit des solutions de métrologie robustes, fiables et précises pour répondre aux exigences exigeantes des fabricants de semi-conducteurs et des centres de recherche. Cet équipement est idéal pour les applications de métrologie de routine et spécialisées, donnant aux utilisateurs les outils dont ils ont besoin pour mesurer et analyser les propriétés des plaquettes et des appareils rapidement et avec précision.