Occasion NOVA NovaScan 3090 Next #293654378 à vendre en France

NOVA TireScan 3090 Next Wafer Metrology Equipment est un système automatisé de haute résolution et de précision conçu pour mesurer, analyser et inspecter avec précision et rapidité les puces de circuits intégrés à semi-conducteurs. Cette unité est capable de tester rapidement et précisément jusqu'à 4 « et 6 » plaquettes et fournit une gamme d'options, y compris des séries d'inclinaison automatisées et un balayage bidirectionnel. Scan 3090 Suivant utilise une machine de microscopie optique avancée avec un manipulateur automatique de diapositives de plaquettes de 14 positions. Cela permet des tests rapides qui mesurent une gamme de caractéristiques dont la dimension critique et la superposition, le contour et la planéité des plaquettes, la rugosité moyenne et les micro-défauts. Cet outil offre une excellente flexibilité pour l'intégration avec une gamme de systèmes automatisés, permettant une gestion facile et complète de l'ensemble du cycle d'essai et d'inspection. Cet atout est construit autour d'un microscope de précision innovant qui fournit un niveau de résolution et de précision extrêmement élevé. Le modèle optique supérieur offre des performances optiques maximales et des lectures toujours précises, quelle que soit la position au microscope ou à la surface de la puce. Ceci est soutenu par l'acquisition automatique d'images, qui permet d'assurer davantage la précision et la fiabilité. De plus, NOVA-Scan 3090 Next est conçu pour répondre aux besoins de haut niveau en matière d'essais de plaquettes et de métrologie. Cet équipement fournit des capacités de traitement d'image très sophistiquées et un contrôle automatisé pour l'acquisition, l'analyse et la communication de données. Le logiciel comprend un large éventail d'options pour adapter le système aux besoins des applications spécifiques, permettant l'analyse des données et la communication de divers facteurs. Ces données peuvent être utilisées pour développer une solution de métrologie de haute qualité adaptée aux exigences exactes de l'application. Scan 3090 Suivant Wafer Metrology Unit est une machine avancée et performante qui fournit un niveau élevé de précision et de précision des tests, de l'analyse et de l'inspection. Cet outil est conçu pour répondre aux exigences exigeantes de l'essai de plaquettes de précision et de la métrologie, et est idéal pour un large éventail d'applications.