Occasion NOVA NovaScan 3090 #293663062 à vendre en France

NOVA TireScan 3090 est un équipement de testeur et de métrologie de plaquettes, conçu pour permettre une analyse précise et répétable des plaquettes à semi-conducteurs jusqu'à 300 mm de diamètre. C'est un outil de pointe combinant une caractérisation électrique standard et de nouvelles technologies optiques sans contact, telles que la microscopie à interférence lumineuse polarisée. NovaScan 3090 permet l'essai rapide d'appareils de semi-conducteur pour l'uniformité, la qualification d'uniformité et la métrologie non-destructive. Il utilise un système de positionnement 12 axes, couplé à une large gamme de capteurs de mesure, pour donner un positionnement précis et reproductible jusqu'à une précision de niveau nanométrique. Son étape principale est compatible avec différents substrats et matériaux de test. NOVA TireScan 3090 comprend également un sous-système de métrologie optique, alimenté par imagerie avancée et microscopie à interférence lumineuse polarisée. Cela permet une analyse optique sans contact des plaquettes, avec une excellente résolution et répétabilité. De plus, l'unité de métrologie comprend un module automatisé de reconnaissance de motifs, qui identifie automatiquement les caractéristiques des plaquettes et quantifie leurs caractéristiques. NovaScan 3090 a aussi une machine d'automation intégrée, qui permet aux utilisateurs de facilement l'intégrer avec d'autre équipement de post-épreuve d'un 45 tours, le contrôleur unifié. L'outil est également hautement programmable, permettant une adaptation rapide à diverses tâches de métrologie et de test. De plus, une boîte à outils de validation spéciale permet aux utilisateurs d'effectuer facilement une gamme de métrologie et de simulations de tests. De plus, NOVA-Scan 3090 comprend également un outil automatisé de manutention des plaquettes, qui offre un moyen sûr et efficace de transporter les plaquettes à destination et en provenance du sous-système de métrologie. En outre, le modèle comprend un équipement de pointe en matière d'environnement et de sécurité, afin de protéger les utilisateurs de tout environnement dangereux. Dans le résumé, NovaScan 3090 est un essai de gaufrette avancé et le système de métrologie était destiné à fournir aux utilisateurs l'épreuve exacte et repeatable et l'analyse de métrologie de gaufrettes de semi-conducteur. Sa combinaison d'une caractérisation électrique standard et de technologies de métrologie optique avancées, ainsi que ses systèmes automatisés de manutention des plaquettes et de protection de l'environnement en font un choix idéal pour tout laboratoire d'essai de semi-conducteurs.