Occasion NOVA NovaScan 420 #9077702 à vendre en France

NOVA TireScan 420 est un système de métrologie conçu pour tester et analyser les plaquettes semi-conductrices. Il utilise des interféromètres optiques avancés pour acquérir des mesures de haute précision avec une répétabilité et une précision inégalées. La Scan 420 comporte deux parties distinctes : un module interférométrique optique et une station d'alignement dédiée. Le module d'interférométrie optique comprend la plate-forme de composants opto-électroniques, la trame de chemin optique, l'outillage d'éclairage, la soustraction automatisée et les composants du profilomètre optique. Le poste d'alignement est celui où les plaquettes sont montées et les mesures effectuées. La station sert également à calibrer le système et à maintenir les précisions d'alignement dans un niveau élevé de précision. L'interféromètre optique de NOVA TireScan 420 est intégré à un étage automatisé précis pour la cartographie des plaquettes qui permet aux utilisateurs de mesurer rapidement et précisément la topographie de n'importe quelle surface de plaquettes. Il comprend également une série d'outils logiciels qui permettent aux utilisateurs d'effectuer une grande variété de mesures, y compris la rugosité de surface, la profondeur du disque, la rainure de guidage, les structures d'angle, et les hauteurs de pas. De plus, la microscopie à commande logicielle et les outils d'analyse d'images pour l'analyse électronique des défaillances sont inclus dans le logiciel de scan 420. Cela permet aux utilisateurs de trouver et de caractériser le rendement et le comportement des participants, ou d'identifier rapidement et avec précision les zones défectueuses de la surface de la plaquette. La gamme complète d'outils de mesure intégrée au NOVA-Scan 420 offre des capacités de métrologie précises pour surveiller la performance d'une variété de produits, allant des composants actifs aux substrats en verre. Il supporte une variété de tailles de plaquettes (jusqu'à 12 pouces) et peut accueillir jusqu'à 24 porteurs de plaquettes. Dans l'ensemble, NovaScan 420 est un essai de gaufrette avancé et une solution de métrologie qui peut être utilisée dans une variété d'applications. L'interféromètre optique et les étages automatisés font des mesures de haute précision rapidement et avec précision, tandis que la capacité d'analyse d'image donne accès à de précieuses informations sur les semi-conducteurs. Toutes ces fonctionnalités font de NOVA-Scan 420 une solution idéale pour l'industrie moderne des semi-conducteurs.