Occasion NOVA V2600 #9233453 à vendre en France

NOVA V2600 Wafer Testing and Metrology Equipment est un système de mesure et d'essai automatisé des wafers de haute précision conçu pour fournir des résultats fiables, précis et reproductibles. Il intègre la microscopie optique haute résolution avec le tout dernier logiciel d'inspection automatisée et de reconnaissance des défauts, fournissant une solution d'imagerie sans fil efficace et rentable. V2600 peut mesurer avec précision l'uniformité et l'épaisseur d'une gamme de matériaux de plaquettes, y compris le silicium, le verre et la céramique. NOVA V2600 utilise les technologies de détection d'images de contact (CIS), de balayage laser et de microscope électronique à balayage (SEM) afin d'inspecter et d'analyser avec précision la surface d'une plaquette. Ce type de métrologie est bénéfique dans des applications telles que la reconnaissance de défauts, la cartographie virtuelle et la surveillance de paramètres de processus. V2600 dispose également d'un ensemble de systèmes de vision automatisés pour mesurer les caractéristiques de surface des plaquettes. Ces systèmes comprennent des manipulateurs automatisés de plaquettes robotisées, des systèmes de détection de bord et une variété de techniques brevetées d'éclairage. NOVA V2600 offre une gamme de fonctionnalités matérielles, y compris des capacités de balayage 4 axes, une microscopie optique haute résolution avec jusqu'à 500x grossissement, une unité de vision entièrement intégrée, et une précision de positionnement précise des plaquettes dans toute une gamme de mouvements linéaires et angulaires. De plus, la machine peut prendre en charge des échantillons jusqu'à 12 pouces et fournit des retours en temps réel et des rapports de résultats. D'autres caractéristiques clés de V2600 comprennent la cartographie spatiale, la cartographie 2D et 3D des défauts, le réglage des étapes pour changer le positionnement des plaquettes, et le suivi en temps réel des paramètres de processus. Cet outil est idéal pour l'inspection des plaquettes, la métrologie et le contrôle des processus, car il permet de mesurer les variations die-to-die, de reconnaître directement les défauts et de réduire les pertes de rendement associées à la contamination des particules. En outre, les plaquettes défectueuses peuvent être rappelées du processus d'inspection et retravaillées, assurant un contrôle complet du processus et une qualité optimale du produit. NOVA V2600 Wafer Testing and Metrology Asset est un modèle avancé et fiable pour réaliser des tests et des mesures de métrologie précis et répétables. Il offre un moyen économique et précis d'obtenir des résultats fiables et reproductibles sur une gamme de matériaux. Sa gamme complète de fonctionnalités matérielles et logicielles permet des tests de plaquettes précis et répétables et des mesures de métrologie, réduisant les pertes de rendement et améliorant la fiabilité du produit.