Occasion NOVASCAN 210 #9224121 à vendre en France

ID: 9224121
Measurement machine.
NOVASCAN 210 wafer testing and metrology equipment est un outil de production automatisé pour mesurer les propriétés électriques des wafers semi-conducteurs. Il combine plusieurs techniques de métrologie pour permettre un contrôle précis des processus tout au long du cycle de production. 210 est équipé de plusieurs systèmes d'alignement optique automatisés, de sorte que les utilisateurs n'ont pas à effectuer des alignements manuels. Les systèmes d'alignement optique offrent une efficacité et une précision maximales dans le processus de balayage. NOVASCAN 210 dispose également d'un ensemble de caméras bien configurées afin de capturer des images de la plaquette. Les caméras sont capables de détecter une variété de paramètres matriciels différents pour une métrologie précise de la géométrie de la plaquette. 210 est livré avec un manipulateur de plaquettes polyvalent, lui permettant de scanner et d'analyser des plaquettes de tailles et de types variés. Sa conception à cadre ouvert facilite le chargement/déchargement rapide et facile des plaquettes, tout en assurant une isolation maximale des vibrations. NOVASCAN 210 est également équipé d'un système de commande de mouvement de pointe. Ce contrôleur de mouvement est très efficace et fournit une précision de mouvement précise pour un débit et une répétabilité maximum. En outre, 210 dispose d'une unité informatique intégrée pour la saisie et l'analyse des données. Cette machine est équipée de processeurs multiples et de processeurs graphiques puissants pour traiter les grands volumes de données générées pendant les scans. Il est également équipé de logiciels avancés pour l'analyse des données. Le logiciel permet aux utilisateurs de créer facilement des modèles d'analyse et de rapport personnalisés, ainsi que de puissants outils d'analyse pour tirer rapidement des conclusions utiles à partir des données. NOVASCAN 210 est un outil puissant, fiable et rentable pour des essais complets de wafer et de métrologie. Il est conçu pour fournir des données rapides, précises et fiables pour le contrôle des processus, contribuant à améliorer le temps de cycle de production et optimiser le rendement.
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