Occasion NOVASCAN 210 #9284368 à vendre en France

NOVASCAN 210 est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes conçu pour l'essai et l'inspection des circuits intégrés au niveau des plaquettes. Le système utilise un canon à faisceau ionique focalisé pour cartographier la topographie de chaque surface de plaquette afin de déterminer les caractéristiques électriques et physiques de chaque composant. L'unité se compose d'une chambre à vide, d'une machine informatique, d'une source d'ions, d'un ensemble de lentilles, d'un outil d'imagerie et d'un déflecteur de faisceau. La chambre à vide est en acier inoxydable de haute qualité et est conçue pour fournir un environnement de vide pour la structure et les composants à l'intérieur. L'actif informatique contrôle tous les composants et enregistre les données de l'instrument. La source d'ions contient une ou plusieurs particules chargées, telles que le xénon, l'argon ou l'hélium, qui sont focalisées par les lentilles et dirigées à travers le déflecteur du faisceau. Le modèle d'imagerie enregistre la taille et l'emplacement des composants sur la plaquette, et utilise l'information obtenue pour déterminer les caractéristiques électriques et physiques des composants sur la plaquette. L'équipement a diverses applications, y compris l'identification et l'emplacement des composants défectueux, l'analyse des défaillances et l'analyse des défauts. Il peut également être utilisé pour identifier des chemins de court-circuit, diagnostiquer et corriger la défaillance de l'oxyde de grille, mesurer la constante diélectrique et mesurer la couche d'épuisement et la fuite de courant du canal. Le système est également utile pour évaluer l'influence des procédés sur une plaquette ou un composant, tels que la contrainte thermique et électrique, l'isolement diélectrique et la charge électrostatique. L'unité est applicable à une variété de plaquettes et composants, tels que GaAs, silicium, SiGe, et SOI. La machine peut être utilisée pour mesurer les caractéristiques nanométriques et la topographie de surface des composants avec une précision nanométrique, permettant un haut degré de contrôle. L'outil est également capable de mesurer une large gamme de paramètres électriques avec une grande précision, tels que la tension de seuil, la tension d'accès et de fermeture, et les longueurs de grille sous-microns. 210 est un actif avancé de test de plaquettes et de métrologie, offrant à l'utilisateur un large éventail de fonctionnalités et d'applications. C'est un outil idéal pour tester et inspecter les circuits intégrés, offrant un moyen fiable et précis de déterminer les caractéristiques électriques et physiques des composants individuels.