Occasion OHKURA DP2301 #9210338 à vendre en France

OHKURA DP2301 est un équipement de test et de métrologie de wafer de pointe conçu pour le test de wafer de ligne de production sur divers substrats semi-conducteurs. DP2301 utilise un système de métrologie optique capable de mesurer la topographie, l'épaisseur du film, les dimensions critiques et d'autres paramètres clés pour le contrôle de la chaîne de production. OHKURA DP2301 est équipé d'une technique brevetée de champ sombre à plusieurs longueurs d'onde (MWDF) qui offre une résolution supérieure à celle de l'inspection traditionnelle en champ sombre à une seule longueur d'onde. Cette unité fournit en outre une fonction automatisée d'inspection de dégraissage qui peut détecter et mettre de côté les plaquettes défectueuses. DP2301 dispose également d'un étage programmable qui supporte une large gamme d'enclumes pour des transferts de plaquettes précis et fiables. Cette machine peut mesurer plusieurs indicateurs de performance clés (KPI), notamment : CD/largeur, hauteur et surface. En outre, OHKURA DP2301 est équipé d'un WDT (Wafer Die Tester) qui peut vérifier automatiquement plusieurs plaquettes dans le même lot pour l'uniformité et les défauts de la filière de la plaquette. DP2301 est livré avec une interface utilisateur intuitive qui intègre le diagnostic, le fonctionnement et le traitement des données. Cet outil est également capable de capturer des images de plaquettes en temps réel et de fournir un retour statistique sur la qualité des plaquettes. Enfin, OHKURA DP2301 fournit une analyse facile des données et un format de rapport exportable des résultats de mesure. Dans l'ensemble, DP2301 est une excellente solution pour les essais de plaquettes et la métrologie dans les réglages des lignes de production. Cet atout est conçu pour être rapide, précis et fiable et fournit toutes les fonctions les plus nécessaires pour la surveillance de la ligne de production. En outre, ce modèle est rentable et convivial, ce qui en fait la solution parfaite pour les essais de plaquettes et la métrologie.