Occasion OKURA DP 2301A01 #9227172 à vendre en France

OKURA DP 2301A01 Wafer Testing and Metrology Equipment est un outil de test et de métrologie de pointe utilisé pour mesurer un large éventail de propriétés des plaquettes semi-conductrices. Cet outil permet une métrologie rapide et des tests en ligne des plaquettes pendant les processus de fabrication. Il dispose d'une conception modulaire, permettant jusqu'à quatre têtes de métrologie et deux sondes pour mesurer simultanément la surface de la plaquette avec une précision nanométrique. Le système peut mesurer avec précision divers paramètres électriques tels que la largeur de ligne, la largeur d'espace, le seuil de tension, la forme d'onde, l'impédance, etc. En outre, l'unité s'intègre facilement aux principaux systèmes de contrôle des processus pour fournir un retour d'information automatisé aux opérations de production. La machine DP 2301A01 comprend un étage de mouvement multi-axes avec une tête de balayage intégrée. Cela assure un mouvement de haute précision de la tête de métrologie, en maintenant la précision dans les taux d'erreur de 10 nanomètres tout en balayant toute la surface de la plaquette. L'outil offre également 50 mètres par seconde de vitesse de balayage et la capacité de scanner des plaquettes aussi grandes que 200mm avec jusqu'à 4 têtes de métrologie et deux sondes. Le logiciel de contrôle intégré de l'actif permet d'adapter des procédures de test complètes aux besoins spécifiques des plaquettes. Il comprend des bibliothèques matérielles et logicielles pour l'acquisition de données, le traitement du signal et l'étalonnage des têtes de métrologie. Il contient en outre le contrôle des entrées/sorties pour la manutention des plaquettes et l'intégration des processus, le contrôle en temps réel et l'automatisation des processus adaptables, ainsi que des fonctions de reporting complètes. OKURA DP 2301A01 Model offre également une gestion intégrée des bases de données pour stocker les résultats de métrologie. Cela permet aux utilisateurs de suivre l'évolution des performances des plaquettes dans le temps et d'obtenir un suivi détaillé des défauts. Il permet également le stockage de traces de processus, la génération de traces et le contrôle statistique. De plus, l'équipement comprend diverses fonctions de sécurité et de diagnostic pour protéger l'intégrité du matériel et des logiciels et assurer le bon fonctionnement du système. Dans l'ensemble, DP 2301A01 Wafer Testing and Metrology Unit est un outil très avancé conçu pour produire des résultats très précis et fiables. Sa construction modulaire et ses capacités logicielles avancées en font une solution puissante pour les besoins d'essai et de métrologie des fabricants de semi-conducteurs et des laboratoires de recherche.