Occasion OLIN MICROELECTRONIC MATERIALS 25 #142444 à vendre en France

OLIN MICROELECTRONIC MATERIALS 25 est un équipement intégré de métrologie et d'essai de plaquettes conçu spécifiquement pour mesurer une variété de caractéristiques physiques, électriques et matérielles complexes des dispositifs semi-conducteurs. Le système est destiné à être utilisé dans la fabrication de semi-conducteurs, y compris dans les domaines de l'optoélectronique et de la microélectronique. L'unité est une solution complète d'essai de plaquettes et de métrologie qui permet de mesurer les propriétés physiques, mécaniques, électriques et optiques des dispositifs semi-conducteurs. Il intègre une variété d'outils, de logiciels et d'accessoires de pointe pour supporter un large éventail de types d'appareils, des IC à puces multiples aux petits appareils. La machine propose un certain nombre de technologies de test différentes, dont la sonde à 4 points, la profilométrie laser, les mesures de capacité/expansion, le profilomètre à miroir d'indice, le diagnostic à l'échelle, le relevé optique, la résistance des feuilles et les électrodes à faible courant. Il propose également des sous-systèmes spécialisés tels que la Nano Probe Sensor Technology (NPT) pour les essais nanomécaniques, l'imagerie de tranchées optiques à nano-résolution et l'analyse des écarts dans le plan (IGA). L'outil est composé de trois composants principaux : un module de métrologie avec une station de test intégrée, des sources laser et un module logiciel. Le module de métrologie comprend un actif de balayage intégré, le scanner Optiprobe et l'étage Z-axis. Les sources laser sont spécifiquement conçues pour améliorer le débit et la précision des essais de plaquettes et de la métrologie. Le module logiciel aide à automatiser le processus de test et de métrologie en permettant aux utilisateurs d'entrer rapidement les paramètres, d'activer/désactiver les tests sélectionnés et de générer des rapports. Ce module aide les opérateurs à gagner du temps et des efforts, ainsi qu'à identifier et corriger facilement les erreurs ou anomalies dans le processus de test. Le modèle fournit également une interface utilisateur puissante pour faciliter l'interaction entre l'opérateur et l'équipement. Au total, 25 est un système sophistiqué d'essai de plaquettes et de métrologie qui est spécialement conçu pour mesurer les caractéristiques physiques, électriques et optiques des dispositifs semi-conducteurs. Il offre des technologies de pointe, une unité de balayage intégrée, des sources laser et un module logiciel puissant pour aider les utilisateurs à minimiser les coûts et à maximiser le débit tout en assurant la précision et la répétabilité. Avec son ensemble complet de caractéristiques, cette machine est idéale pour les applications industrielles et de laboratoire.