Occasion ORC MEM-5296D #293642944 à vendre en France

ORC MEM-5296D est un équipement sophistiqué d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour les fabricants de semi-conducteurs. Il dispose de matériel intégré, de logiciels et de techniques pour mesurer avec précision les caractéristiques des plaquettes. Le système peut mesurer la contrainte des plaquettes, la texture de surface et d'autres motifs microscopiques sur une gamme de matériaux semi-conducteurs. MEM-5296D est équipé d'un étage 5 axes haute résolution et d'une unité de mesure automatisée, ce qui le rend idéal pour l'analyse de haute précision de paramètres critiques tels que la rugosité de surface, le défaut de surface et la variation d'épaisseur. Pour garantir la précision des données, la machine dispose d'un entraînement sans jeu de précision, d'une structure rigide et d'une longue plage de déplacement pour des mesures rapides et précises. De plus, une grande surface de mesure peut être parcourue par balayage jusqu'à quatre plaquettes simultanément. L'outil est équipé de matériel et de logiciels de pointe pour garantir des résultats ultra précis. L'optique de mesure avancée offre une imagerie haute résolution avec un large champ de vision, tandis que le traitement d'image en temps réel est conçu pour garantir des données précises. L'étape automatique aide à contrôler la position de l'échantillon en utilisant une variété de paramètres de mouvement et permet un balayage précis rapide. En outre, ORC MEM-5296D est compatible avec de multiples interfaces, permettant une intégration transparente avec les systèmes de métrologie existants. L'actif peut être contrôlé par des entrées analogiques ou numériques, et comprend une interface Ethernet et USB pour une communication facile avec l'équipement de mesure. En outre, il est conforme à LabVIEW pour l'analyse automatisée des données et la génération de rapports. MEM-5296D est une solution idéale pour des applications exigeantes nécessitant des capacités de mesure totales rapides et précises. Il peut être utilisé pour un large éventail d'applications, y compris la caractérisation de surface, la détection de défauts, la détermination de contraintes de bas niveau, et la cartographie du contour, entre autres. Avec son logiciel de pointe, son optique de précision et son modèle de mesure efficace, il est le choix idéal pour tout fabricant de semi-conducteurs qui a besoin de solutions fiables et précises de test de plaquettes et de métrologie.