Occasion ORC MEM-5296D #9243762 à vendre en France

L'équipement ORC MEM-5296D Wafer Testing and Metrology d'Orion est un système de test de wafer à double usage, hautement personnalisable et de précision. L'unité est composée de deux composants principaux de test, une machine optique avancée et une tête de test de plaquette. L'outil optique est composé d'une structure optique multi-axes rotative, d'un manipulateur à 4 axes avec précision de mouvement, d'étages linéaires/rotatifs de précision et d'un train optique monolithique à 6 axes. Cet atout optique de haute précision simplifie les temps de réglage et d'alignement, tout en éliminant le besoin de réglages délicats de l'opérateur. Avec une plage de travail réglable allant jusqu'à 12,7 mm, ce modèle est bien adapté à la production et au développement de plaquettes de différentes tailles. La tête d'essai de la plaquette comprend une détection fiduciaire automatique intégrée pour l'alignement répétable des plaquettes. La tête d'essai est équipée d'une précision d'alignement des plaquettes allant jusqu'à 10nm, avec des capacités de sonde à commande de puissance de haute précision. Cette tête de test automatisée a été conçue pour augmenter le débit pour le test des plaquettes avec une intervention minimale de l'opérateur. Un processeur de mesure embarqué permet à la tête de test d'appliquer des mesures de plaquettes avec un filtrage et une comparaison de grande précision. L'équipement fournit instantanément des données en temps réel à l'opérateur, y compris des mesures de paramètres, le tracé de la carte, la graphie moyenne et l'imagerie numérique détaillée. Ce système de site Web est compatible avec les cadres logiciels standard fab, y compris OPC, GEM, SECS-II, et HM1512A pour les informations de test en temps réel. Il dispose de capacités complémentaires de détection de collision avec le clic d'un bouton, l'élimination des accidents involontaires et la fourniture de résultats d'essai répétables. La combinaison de la haute précision, le test automatisé des plaquettes et le traitement des mesures en temps réel avec la combinaison de l'optique avancée de MEM-5296D en fait une solution idéale pour les applications de test des plaquettes et de métrologie. Sa précision, sa précision et sa flexibilité permettent de tester et de métrologie un large éventail de tailles de plaquettes et de paramètres d'essai, tout en éliminant la nécessité d'ajustements délicats de l'opérateur.