Occasion ORC MEM-5926 #9017907 à vendre en France

ORC MEM-5926 est un équipement testé et de métrologie conçu pour utiliser le balayage laser à faisceaux multiples pour la mesure de précision des dispositifs à couches minces. Ce système peut fonctionner avec plusieurs matériaux complexes métalliques et diélectriques, y compris des couches optiques multicouches à couches minces. L'unité est basée sur une technique d'interférométrie à double faisceau qui fournit des mesures précises et répétables de dispositifs optiques à couches minces tels que des réseaux diffractifs, des réflecteurs à couches minces, des séparateurs de faisceaux, des polariseurs et des revêtements antireflet. La machine est composée d'une source lumineuse, d'une unité de balayage et d'un contrôleur électronique. La source lumineuse est un laser à diodes à double longueur d'onde qui fournit des mesures très précises et répétables pour les dispositifs à couches minces. L'unité de balayage contient deux jeux de miroirs et un disque tournant. Ce disque est utilisé pour scanner et mesurer le dispositif à couche mince avec deux faisceaux laser distincts. Les réflexions de chaque laser sont ensuite enregistrées par une caméra CCD et analysées à l'aide d'un algorithme logiciel de traitement d'image. Le contrôleur assure un contrôle précis et fiable de la source laser et du balayage miroir/disque. Il peut fonctionner dans plusieurs modes avec différents niveaux de sensibilité, et peut fonctionner dans des régimes de balayage à deux et trois dimensions. Le contrôleur peut également capturer des images des dispositifs à couches minces à l'aide de son programme intégré d'acquisition d'images. L'outil est capable de mesurer des composants optiques en couches minces avec une précision ± 0,05 nm. Il offre également une large gamme de température de fonctionnement, allant de 0 ° C à 55 ° C et peut résister à des chocs physiques allant jusqu'à 200 g par accélération. Ces capacités font de MEM-5926 une option polyvalente, performante et rentable pour une variété d'applications de test et de métrologie de dispositifs à couches minces.