Occasion ORC MEM-5926D #9017908 à vendre en France

ORC MEM-5926D Wafer Testing and Metrology Equipment est un système autonome robuste pour les essais de surface avancés et les applications de métrologie. L'unité entièrement automatisée est conçue pour fournir une précision rapide et précise pour les mesures de dimension, la couverture des défauts, la topographie de surface, et d'autres métriques cruciales des dispositifs de wafer comme les matrices semi-conductrices. La machine utilise une combinaison d'outils de mesure avancés et automatisés pour obtenir des données précises et fiables. Il dispose de caméras haute résolution et optique avancée pour capturer des photomicrographies de caractéristiques fines, telles que des rayures, trous d'épingle, puits, et d'autres caractéristiques de surface. Il offre également une variété d'options de traitement d'image telles que les filtres d'affûtage d'image, l'amélioration du contraste, et d'autres techniques d'amélioration d'image. L'outil est équipé avec un stade avancé de 3 axes et un microscope optique à haute résolution qui peut capturer des mesures tant dans l'avion que de l'avion. Cela garantit un alignement précis de l'échantillon avec les mesures et une grande précision dans l'analyse métrologique. De plus, l'actif comprend un large éventail de sondes pour les essais sur plaquettes et la collecte de données. MEM-5926D offre également la fluorescence aux rayons X (XRF) comme option d'essai pour l'analyse élémentaire de la composition des couches diélectriques, en raison de sa capacité à mesurer l'absorption des rayons X à partir d'éléments à l'intérieur de l'échantillon. Cette fonctionnalité permet aux utilisateurs de déterminer rapidement et précisément la composition moyenne d'une couche. ORC MEM-5926D fournit des capacités complètes de production et d'analyse de données. Il permet aux utilisateurs de générer des rapports de qualité complets avec analyse des erreurs et évaluation des défauts. En plus de ses autres fonctionnalités, le modèle peut également être équipé de divers outils logiciels tels que l'analyse de défauts et Wafer Repair logiciel, permettant aux utilisateurs d'analyser les causes de défauts et de réparer de manière autonome les surfaces défectueuses. MEM-5926D Wafer Testing and Metrology Equipment est conçu pour fournir des résultats fiables dans diverses conditions d'essai. Il est parfait pour les lignes de production de semi-conducteurs à haut volume, les instituts de recherche et d'autres paramètres qui nécessitent des tests précis et des données de métrologie.