Occasion ORC MEM-5926D #9080493 à vendre en France

ORC MEM-5926D
ID: 9080493
Bump height measurement systems.
ORC MEM-5926D est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes, conçu pour fournir un contrôle de qualité et des mesures précises pour la fabrication de semi-conducteurs. Des résultats très fiables et précis sont obtenus grâce aux fonctionnalités et aux performances innovantes du système, qui comprennent des paramètres de métrologie très variés, des capacités de haut débit et la collecte de données pour le contrôle de la qualité et la surveillance des processus. L'optique avancée de l'unité fournit une véritable analyse spectrale des signaux optiques, qui permettent la précision et la répétabilité de toutes les mesures. Une source laser puissante convient à la détection de défauts avec un module laser adjacent, tandis qu'un taux d'échantillonnage élevé permet d'obtenir des résultats rapidement et avec précision. Une interface utilisateur intuitive complète offre une configuration rapide pour les mesures optiques et électriques, tandis qu'un logiciel dédié (MultiGauge) permet de manipuler facilement les données, de traiter le signal et de stocker/récupérer les données. MEM-5926D est conçu avec une puissante machine d'imagerie 3D en temps réel, permettant aux utilisateurs de mesurer des structures complexes de plaquettes ou de dispositifs avec une grande précision. En outre, l'outil est compatible avec une large gamme de sondes automatiques et manuelles, assurant un bon ajustement pour pratiquement n'importe quelle application de test de plaquette. L'actif 7 axes prober ORC MEM-5926D assure un débit élevé et une détection automatique précise, permettant des mesures rapides et répétitives avec un minimum d'erreurs. En outre, le modèle offre une grande fonctionnalité pour les cartes de plaquettes et permet une commutation rapide entre elles, assurant une acquisition et une réduction rapides et précises des données. MEM-5926D équipements offrent également les dernières technologies PCI Express, permettant un contrôle plus puissant et une meilleure gestion des données. Avec ses performances de pointe dans l'industrie et ses excellents niveaux de flexibilité, ORC MEM-5926D est une solution de test et de métrologie idéale pour l'industrie des semi-conducteurs.
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