Occasion PHOSEON MX1002 #9226706 à vendre en France

PHOSEON MX1002
ID: 9226706
Taille de la plaquette: 6"
Infrared Automated Optical Inspection (AOI) system, 6".
PHOSEON MX1002 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes haut de gamme, conçu pour l'industrie des semi-conducteurs. Il est conçu pour mesurer les propriétés de substrats tels que des plaquettes, des puces de silicium ou d'autres matériaux. Ce système a une tête de métrologie optique avancée qui utilise l'interférométrie laser et le profilage optique pour l'imagerie haute résolution des substrats. Il effectue des tests tels que la métrologie inter-couches sur une grande surface, des mesures d'épaisseur de film, et la détection de défauts à haut grossissement. L'unité dispose d'un design cinématique à 7 axes qui permet de parcourir jusqu'à 2000mm dans les axes X et Y. Cela permet une grande surface de mesure. La tête optique offre également une focale variable avec un grossissement maximum de 250x, et une puissance laser réglable jusqu'à 40mW. La machine optique elle-même est calibrée et construite à l'aide de composants d'alignement de haute précision. MX1002 est également équipé d'une suite de capteurs de pointe qui comprend un codeur linéaire numérique pour les mesures de distance, un capteur de capacité 64 canaux pour l'analyse d'images et un capteur de capacité compensé en température. Cette suite de capteurs offre une large gamme de mesures, de la rugosité de surface aux profils de profondeur. PHOSEON MX1002 utilise également une puissante suite logicielle conçue pour analyser les données collectées à partir des capteurs. Ce logiciel comprend des fonctions d'analyse statistique avancées, ainsi que des outils puissants pour le post-traitement des données. Le logiciel comprend également une fonction d'enregistreur de numérisation, qui peut enregistrer des données jusqu'à vingt fois plus rapidement que les tarifs standard. MX1002 est un outil puissant conçu pour répondre aux besoins de l'industrie des semi-conducteurs. Avec son optique de haute précision, sa suite de capteurs complexes et son logiciel puissant, il peut être utilisé pour mesurer une variété de substrats avec précision et rapidité.
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