Occasion PRINCETON APPLIED RESEARCH / PAR 410 #77229 à vendre en France

PRINCETON APPLIED RESEARCH/PAR 410 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes polyvalent et innovant, capable de fournir des mesures de haute précision de nombreux paramètres différents sur les plaquettes pendant la production. Le système utilise une configuration optique avancée, qui comprend plusieurs lasers, caméras et détecteurs pour mesurer les propriétés électriques et optiques de la plaquette avec beaucoup de précision et de cohérence. PAR 410 a la capacité de mesurer un large éventail de propriétés physiques et électriques des plaquettes semi-conductrices. Les propriétés électriques comprennent notamment les caractéristiques diélectriques, la résistivité et la mobilité. Les propriétés optiques comprennent la réflectivité et la transmittance, qui peuvent être utilisées pour caractériser les propriétés chimiques et mécaniques des plaquettes. L'unité est également capable de prendre des mesures de plaquettes structurées avec un haut niveau de résolution spatiale et de répétabilité. PRINCETON APPLIED RESEARCH 410 propose également une large gamme de fonctionnalités pour les utilisateurs, telles que l'interface de programmation d'appareils (DPI), une interface graphique conviviale et une bibliothèque robuste de tests. Le DPI permet aux utilisateurs finaux de contrôler les différents appareils de la machine et de personnaliser les programmes de test, ainsi que de télécharger et stocker les données de l'outil. En outre, l'interface graphique conviviale permet à l'utilisateur de visualiser les données rapidement, ce qui facilite l'analyse de leurs résultats. La bibliothèque robuste de tests inclus avec l'atout rend rapide et facile pour les utilisateurs de mettre en place des tests pour les plaquettes qu'ils mesurent, leur permettant de passer moins de temps à configurer le modèle et plus de temps à analyser leurs résultats. En outre, l'équipement dispose également d'un système d'étalonnage automatisé, qui permet aux utilisateurs de recalibrer facilement l'unité pour assurer une précision et une fiabilité constantes de leurs mesures. En résumé, 410 wafer testing and metrology machine est une solution polyvalente et fiable pour mesurer une large gamme de propriétés physiques et électriques des wafers semi-conducteurs. Sa configuration optique avancée, sa bibliothèque de tests robuste, son interface graphique conviviale et son outil d'étalonnage automatisé en font un choix idéal pour le contrôle de la qualité et les tests de production des plaquettes semi-conductrices.