Occasion PSS AccuSizer 780 APS #9298953 à vendre en France

PSS AccuSizer 780 APS est un système d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour les essais précis et à haut débit et la métrologie de Wafer Edge Profiling (WEP), Wafer Flatness Measurement (FMM), et les mesures de non-uniformité des couches minces. Grâce à PSS AccuSizer 780, les utilisateurs peuvent analyser rapidement et avec précision le profil de bord d'une plaquette, déterminer la planéité de la plaquette et mesurer la non-uniformité du film mince sur la plaquette. Le résultat des mesures est une représentation précise de la forme et de l'épaisseur de la plaquette, ce qui est utile pour examiner et calibrer les processus. AccuSizer 780 APS utilise la microscopie confocale laser à balayage avancé et la technologie de traitement d'image numérique pour permettre les mesures de haute précision. Le dispositif est équipé d'une plage de détection optique de 75 mm qui couvre une taille d'échantillon allant jusqu'à 4 'de large. Il intègre également une large gamme de techniques de détection de focalisation, permettant des mesures précises de l'épaisseur de la plaquette de 0,2 à 30um. De plus, PSS AccuSizer 780 APS a une vitesse de balayage de 238.6mm/sec. AccuSizer 780 APS est un outil essentiel pour toute installation traitant des essais de wafer et de métrologie. En utilisant ses capacités d'imagerie avancée et de microscopie confocale, les utilisateurs peuvent garantir des mesures précises et fiables. L'appareil est également livré avec une interface utilisateur graphique conviviale qui rend l'installation et le fonctionnement facile et efficace. La conception robuste de l'appareil et sa vitesse de balayage accrue augmentent encore son efficacité et sa fiabilité globales. En outre, PSS AccuSizer 780 APS dispose d'un environnement contrôlé par la température qui assure l'analyse des plaquettes et les mesures de métrologie sont effectuées dans un environnement optimal. En résumé, l'AccuSizer 780 APS est un système de test et de métrologie des plaquettes de pointe conçu pour permettre la mesure précise et à haut débit de la taille des plaquettes et de la non-uniformité des couches minces. Il est équipé d'une large gamme de techniques de détection de focalisation, d'une large gamme de détection et d'une vitesse de balayage rapide. C'est un système fiable et facile à utiliser qui en fait un outil important pour toute installation traitant de la production de plaquettes et de la métrologie.