Occasion RIGAKU MFM65 #9133012 à vendre en France

RIGAKU MFM65 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes qui offre une gamme complète de capacités pour mesurer les propriétés électriques, optiques et mécaniques des matériaux semi-conducteurs, optiques et autres matériaux avancés. Ce système sophistiqué combine des instruments de haute précision, des logiciels et des techniques d'imagerie pour générer des mesures fiables à l'échelle nanométrique. Pour déterminer les propriétés d'une plaquette, RIGAKU MFM 65 effectue des mesures à l'aide d'un microscope à balayage tunnel (STM). Cette STM haute résolution fonctionne en mode sans contact pour ne pas endommager l'échantillon de plaquette. La sonde du microscope est réalisée en alliage aluminium-or de manière à réduire l'usure de la surface de la plaquette. La sonde est alors dirigée sur la surface de la plaquette, balayant son courant électrique et ses propriétés au fur et à mesure de son déplacement. MFM65 utilise également la microscopie à force de balayage (MFS) pour mesurer les propriétés physiques d'une plaquette. La MFS consiste à scanner la surface d'une plaquette à l'aide d'une sonde spécialisée et à mesurer ses propriétés mécaniques au fur et à mesure du déplacement de la pointe sur la surface. Cette technique est également très précise et permet de détecter des changements dans la structure de surface d'une plaquette à l'échelle du nanomètre. MFM 65 peut également effectuer des mesures spectroscopiques sur un échantillon de plaquettes telles que la mesure du spectre d'absorption et de réflectance d'un matériau. Pour ce faire, on dirige une impulsion de lumière au niveau de la plaquette qui réfléchit alors en arrière un spectre de longueurs d'onde contenant chacune des informations distinctes sur les propriétés de la plaquette. RIGAKU MFM65 est également capable de mesurer les propriétés électriques et optiques à l'échelle nanométrique - caractéristiques essentielles au succès des essais de wafer et de métrologie. Enfin, RIGAKU MFM 65 dispose également de capacités de traitement de données embarquées. Une unité logicielle optimisée est utilisée pour analyser et interpréter les données collectées par l'instrumentation. Les données sont ensuite utilisées pour générer des rapports détaillés qui permettent aux chercheurs de mieux comprendre les propriétés de la plaquette. MFM65 wafer testing and metrology machine est un outil sophistiqué pour caractériser les propriétés physiques des wafers à l'échelle nanométrique. Cet outil combine des techniques d'instrumentation et d'imagerie de précision avec un logiciel d'analyse de données efficace pour produire des mesures de plaquettes fiables. Cet atout fournit aux chercheurs scientifiques et aux ingénieurs une connaissance inestimable du comportement des matériaux dans une variété d'industries.