Occasion ROENTGEN ANALYTICS XYZ MAXXI 5 #293816348 à vendre en France

ROENTGEN ANALYTICS XYZ MAXXI 5 est un équipement avancé d'essai et de métrologie des plaquettes conçu pour la mesure et l'analyse de haute précision des plaquettes semi-conductrices dans l'industrie des semi-conducteurs. Cette technologie de pointe est une plate-forme multifonctionnelle qui offre des performances supérieures dans la caractérisation et l'évaluation des propriétés des plaquettes, permettant aux fabricants d'assurer la qualité et la fiabilité de leurs dispositifs semi-conducteurs. Une des caractéristiques clés du système XYZ MAXXI 5 est son étage XYZ de haute précision, qui fournit un positionnement et une manipulation précis des plaquettes lors des tests et des processus de mesure. Cette étape permet des mouvements automatisés et répétables, assurant des résultats cohérents et fiables dans la caractérisation des plaquettes. L'unité est équipée d'une gamme d'outils d'analyse et de capteurs, y compris le spectromètre à fluorescence X (XRF), la microscopie optique, la microscopie électronique à balayage (SEM) et la microscopie à force atomique (AFM), entre autres. Ces outils permettent une analyse complète des propriétés des plaquettes telles que la composition, l'épaisseur, la rugosité, les défauts et la contamination à l'échelle nanométrique. L'intégration de multiples techniques d'analyse dans une plateforme unique permet des mesures synergiques et la vérification croisée des résultats, améliorant l'exactitude et la fiabilité de l'analyse. Le spectromètre XRF de ROENTGEN ANALYTICS XYZ MAXXI 5 utilise le principe de l'émission de rayons X pour déterminer la composition élémentaire du matériau de la plaquette. Cette technique non destructive offre une analyse rapide de plusieurs éléments simultanément, fournissant des informations précieuses sur la pureté des matériaux et les concentrations de dopants. L'outil est capable de détecter des oligo-éléments à faible concentration, ce qui le rend idéal pour le contrôle de qualité et l'optimisation des procédés dans la fabrication de semi-conducteurs. En plus de l'analyse élémentaire, l'actif offre des capacités d'imagerie avancées grâce à des modules de microscopie optique, SEM et AFM. La microscopie optique permet d'inspecter visuellement les surfaces des plaquettes à haute résolution, ce qui permet d'identifier les défauts, les motifs et les caractéristiques. SEM fournit une imagerie détaillée de la topographie et de la morphologie de la surface, révélant des caractéristiques structurelles telles que les limites des grains, l'orientation des cristaux et la rugosité de la surface. AFM propose une cartographie tridimensionnelle précise des propriétés de surface, telles que la rugosité, l'adhérence et les propriétés mécaniques, avec une résolution nanométrique. Le modèle XYZ MAXXI 5 est conçu avec une interface conviviale et un logiciel intuitif pour l'acquisition, l'analyse et la visualisation des données. Le logiciel permet un traitement automatisé des données, des piqûres d'images et des mesures quantitatives, facilitant un flux de travail efficace et l'interprétation des données. De plus, l'équipement est équipé d'outils de gestion des données pour organiser, stocker et partager les résultats analytiques, assurer la traçabilité et la conformité aux normes de l'industrie. Globalement, ROENTGEN ANALYTICS XYZ MAXXI 5 est un système de test et de métrologie de plaquettes de pointe qui offre des capacités inégalées pour les fabricants de semi-conducteurs. Avec ses outils d'analyse avancés, ses mesures de haute précision et son interface conviviale, l'unité permet une caractérisation complète des propriétés des plaquettes essentielles au contrôle de la qualité, à l'optimisation des processus et au développement des produits dans l'industrie des semi-conducteurs.