Occasion RUDOLPH / AUGUST 3DI 8000 #293761475 à vendre en France

RUDOLPH/AUGUST 3DI 8000 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes très avancé. Il peut fournir une précision et une précision optimales dans la mesure des propriétés géométriques des dispositifs semi-conducteurs sur une plaquette. Il offre à la fois la microscopie optique et les mesures interférométriques des caractéristiques des dispositifs semi-conducteurs. Le système combine un microscope interférométrique 3 axes spécialement conçu avec un étage de précision pour créer une unité d'imagerie pour la mesure des plaquettes. Le microscope est constitué d'une base qui contient deux interféromètres à axes croisés qui permettent de mesurer deux déplacements latéraux et un déplacement orthogonal en trois dimensions. Le microscope a également un faisceau collimaté qui est utilisé pour mesurer la dimension verticale ou la profondeur avec une grande précision. En outre, la machine comprend un étage de précision qui permet le balayage de grandes zones de plaquettes avec une grande précision. AUGUST 3DI 8000 est un outil robuste conçu pour être très insensible aux vibrations. Cet actif fournit une résolution améliorée jusqu'à 1,5 nanomètre et une répétabilité jusqu'à 0,2 nanomètre. Le modèle permet des mesures rapides et précises des informations tridimensionnelles des structures semi-conductrices au niveau de la plaquette. RUDOLPH 3DI 8000 comprend un logiciel d'analyse d'image avancée qui fournit à l'utilisateur un affichage graphique complet des résultats. Le logiciel peut également être utilisé pour analyser les données qui ont été capturées avec l'équipement et pour comparer les images acquises avec des images de référence. Ce logiciel de traitement d'image permet la visualisation des données acquises, et la poursuite de l'analyse des données. 3DI 8000 offre des mesures à haut débit et une large gamme de capacités de mesure. C'est le choix idéal pour les travaux de recherche et développement professionnels. Il est également bien adapté pour les tests de production et les applications de contrôle de la qualité. Ce système est le choix idéal pour analyser les performances et la fiabilité des matériaux semi-conducteurs nouvellement développés.