Occasion RUDOLPH FE VII/IV #9373048 à vendre en France

RUDOLPH FE VII/IV est un équipement d'essai et de métrologie en plaquettes conçu pour la recherche et le développement (R-D) ainsi que pour des applications de production. Ce système offre une plate-forme polyvalente pour l'inspection des plaquettes sans contact à l'arrière et à l'avant. L'unité supporte une variété de diamètres et de types de boîtiers et dispose d'un large choix de capteurs et de têtes de mesure pour détecter diverses non-conformités de processus. Il est capable de mesurer les caractéristiques du niveau de la plaquette telles que la concentration des défauts de particules, la topographie de surface, les propriétés électriques, la composition chimique et la profondeur de gravure. La machine utilise la technologie exclusive de pointe et l'imagerie multi-capteurs pour l'inspection rapide des plaquettes et la métrologie de surface des plaquettes. Il a la capacité d'inspecter jusqu'à 30 x 30 cm2/die et est conçu pour supporter jusqu'à 8 sections différentes, permettant une extraction de données plus rapide et plus précise. En outre, il fournit à la fois des capacités de mesure sans contact et sans contact avec de nouvelles acquisitions d'images de microscopie. L'outil offre également une technologie brevetée unique de balayage multi-axes qui est livré avec vitesse de balayage variable et profil d'accélération. Cela garantit que toutes les courbures sont éliminées et un rapport complet au niveau de la filière pour évaluer les performances des plaquettes dans les fabs de production et de conception. En outre, il dispose d'une vitesse d'acquisition et de numérisation de données allant jusqu'à 300 mm/seconde qui est obtenue à l'aide de caméras CMOS rapides et d'un grand champ de vision. En outre, l'actif offre un progiciel intégré avec la suite d'outils EWI qui est conçu pour analyser et évaluer rapidement les plaquettes semi-conductrices. Il fournit également un modèle d'analyse visuelle intégrée pour la segmentation et l'identification des images. De plus, il dispose d'un ensemble complet d'outils pour la production automatisée de rapports, l'étiquetage, la classification des défauts et l'analyse statistique. Enfin, il dispose également d'une foule d'outils d'automatisation tels que des poignées robotiques, la vision de la machine, et d'autres fonctionnalités robotiques. En conclusion, le RUDOLPH FE VII/IV est un puissant équipement d'essai et de métrologie des plaquettes qui fournit une précision et une vitesse inégalées pour l'inspection des plaquettes sans contact et sans contact. Il combine une technologie exclusive de pointe avec l'imagerie multi-capteurs pour soutenir une large gamme d'inspections de plaquettes de diamant de la recherche et développement aux applications de production. Avec sa gamme d'outils intégrés, il fournit une plate-forme rapide, fiable et complète pour évaluer et analyser les plaquettes semi-conductrices.