Occasion RUDOLPH FE VII/IV #9412377 à vendre en France

RUDOLPH Fe VII/IV Wafer Testing and Metrology Equipment est un dispositif de test très précis et précis utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs pour la fabrication de plaquettes de silicium. Cette solution d'inspection et de métrologie facilite les tests et diagnostics automatisés des plaquettes. Il est conçu pour détecter les conditions de défaut dans la plaquette, évaluer ses performances et fournir des données de contrôle de qualité pour améliorer le processus de production global. Avec un temps de cycle rapide de 2 ms, le système est capable d'obtenir des mesures répétables et répétables avec un haut niveau de précision. RUDOLPH Fe VII/IV offre une cartographie directionnelle, qui permet aux utilisateurs d'obtenir un profil de surface d'une plaquette et de calculer l'épaisseur totale à partir de quelques points seulement. De plus, l'unité peut mesurer l'épaisseur du film jusqu'à 10nm, ce qui est très avantageux pour les plaquettes à faible bruit. Cette machine est capable d'évaluer de nombreux types d'articles de test, allant de l'estampage à la largeur de ligne, l'épaisseur de couche, le placage et l'instrumentation. En outre, l'outil dispose d'algorithmes avancés de reconnaissance de fonctionnalités et d'algorithmes pour les évaluations sans contact. RUDOLPH Fe VII/IV est un dispositif modulaire, et de nombreuses options peuvent être intégrées dans l'actif, en fonction des besoins des utilisateurs. Ces options comprennent une fonction additionnelle de mesure de CD/OCD, un logiciel de mesure de stress et un add-on Cathodoluminescence. RUDOLPH Fe VII/IV peut être connecté à des systèmes de traitement de données tels que LIS, SECS-II et GEM. Le modèle est également livré avec une interface utilisateur graphique qui fournit un contrôle interactif et aide l'utilisateur à naviguer dans l'équipement. En conclusion, RUDOLPH Fe VII/IV est un système fiable, convivial et puissant qui est essentiel pour la fabrication réussie de plaquettes de silicium. Avec des mesures précises et des fonctionnalités polyvalentes telles que la reconnaissance des fonctionnalités et l'évaluation automatisée des processus, il s'avère être un excellent outil pour les essais de plaquettes et la métrologie.