Occasion RUDOLPH MetaPulse 200 #293766451 à vendre en France

RUDOLPH MetaPulse 200 Wafer Testing and Metrology Equipment est un système automatisé spécialement conçu pour les essais et les applications de métrologie des wafers semi-conducteurs et autres substrats connexes. Cette unité offre une imagerie haute résolution et une machine à balayage de scène pour tester et analyser des structures artificielles. Il est capable de scanner les deux côtés d'une matrice, ce qui le rend adapté à une variété d'applications, y compris les processus de métrologie au niveau de la matrice et l'examen des défauts. L'outil utilise l'optique haute résolution en combinaison avec la technologie d'imagerie directe pour permettre à l'utilisateur d'effectuer l'imagerie haute résolution supérieure et inférieure d'un semi-conducteur ou d'un autre substrat. Les images peuvent être créées à des résolutions aussi élevées que 25nm, et l'actif dispose d'une variété de paramètres réglables en fonction de l'application spécifique. Le modèle dispose également d'un équipement automatisé de balayage d'étapes qui permet à un utilisateur de scanner une zone entière d'une ou plusieurs matrices en un seul endroit. Ce système de balayage permet un examen à haute précision et à grande vitesse d'une grande zone en peu de temps. L'unité est équipée d'une variété de matériel et de logiciels d'acquisition de données, permettant à l'utilisateur d'analyser et de comparer les résultats de plusieurs tests. La machine est également livrée avec plusieurs suites d'analyse, permettant à l'utilisateur d'analyser des paramètres liés au niveau de la matrice et aux défauts tels que les mesures de dimension critique (CD), les mesures de seuil de bord, les mesures de granularité, l'analyse statistique, et plus encore. RUDOLPH META PULSE 200 offre également une variété d'options d'interface, permettant à l'utilisateur de se connecter facilement à des systèmes et bases de données externes. L'outil est compatible avec une large gamme d'ordinateurs et de systèmes d'exploitation, permettant une compatibilité avec pratiquement n'importe quelle infrastructure existante. L'actif offre également un support pour une variété de formats automatisés d'importation/exportation de données, ce qui permet de stocker, d'analyser et de partager les résultats avec d'autres utilisateurs. Dans l'ensemble, MetaPulse 200 Wafer Testing and Metrology Model est un équipement complet conçu pour offrir des tests de données rapides, précis et fiables. En plus de sa technologie automatisée de numérisation par étapes, le système offre également un certain nombre d'options avancées d'analyse de données, permettant aux utilisateurs d'examiner rapidement les résultats et d'obtenir un contrôle précis des processus dans une variété d'applications.