Occasion RUDOLPH MetaPulse 200 #293813130 à vendre en France

RUDOLPH MetaPulse 200 est un équipement d'essai et de métrologie en plaquettes conçu par RUDOLPH Technologies pour augmenter le débit et la précision des essais de semi-conducteurs et de composants électroniques. Le système dispose d'une tête de balayage à grande vitesse pour tester une large gamme de substrats, y compris des puces de silicium et d'autres matériaux semi-conducteurs. Il dispose également de capacités de métrologie avancées, y compris l'imagerie, la mesure des dimensions critiques (CD) et la détection des défauts. RUDOLPH META PULSE 200 utilise un sous-système de direction de faisceau extrêmement précis pour mesurer avec précision les caractéristiques nanométriques et les défauts avec une grande vitesse et précision. Ceci est réalisé en alignant le faisceau sur le substrat par l'intermédiaire d'une unité d'optique adaptative unique, puis en commandant la focalisation ou la zone d'influence du faisceau par l'intermédiaire d'un réflecteur courbe et de lentilles. De plus, l'outil d'optique adaptative de la machine lui permet de compenser automatiquement les changements de température, d'humidité et d'autres variables qui peuvent affecter le faisceau. L'actif comprend également un certain nombre de têtes de sonde spécialisées, chacune personnalisée pour la sonde semi-automatisée des plaquettes ou les essais manuels. Ces têtes de sonde sont conçues pour garantir des résultats précis et fiables, même dans des environnements difficiles. La sonde double tête de 300 mm utilise un étage piézoélectrique pour sonder jusqu'à la précision du nanomètre. La sonde mono-tête de 200 mm augmente la précision avec un trajet lumineux divergent/convexe très précis, et est idéale pour les mesures de plaquettes non planes. Les algorithmes de détection de défauts intégrés RUDOLPH sont couplés à une caméra CCD à faible bruit, permettant de détecter rapidement les défauts des topographies les plus complexes à des vitesses de balayage élevées. L'interface d'écran tactile OLED haute définition fournit une visualisation en temps réel du processus d'inspection, et permet de personnaliser le modèle pour répondre aux besoins spécifiques de l'application. MetaPulse 200 est également conforme aux exigences de sécurité les plus strictes de l'industrie, offrant plusieurs niveaux d'authentification et de cryptage des utilisateurs ainsi qu'une multitude de fonctionnalités de sécurité. Il comprend également diverses fonctions de diagnostic et de suivi des erreurs pour assurer la fiabilité opérationnelle. L'équipement offre une intégration facile dans les réseaux existants, avec une interface utilisateur intuitive et une capacité de gestion à distance à grande échelle. Dans l'ensemble, META PULSE 200 combine des capacités de métrologie avancées avec une vitesse et une précision inégalées, ce qui en fait le système de test et de métrologie idéal pour l'installation moderne de fabrication de semi-conducteurs.