Occasion RUDOLPH MetaPulse 200 #9227397 à vendre en France

RUDOLPH MetaPulse 200 est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de précision pour dispositifs semi-conducteurs. Il permet des mesures sophistiquées des puces et des motifs de photolithographie sur des plaquettes, y compris des plaquettes optiquement planes, épaisses, minces et multi-matériaux. Le système offre une combinaison d'imagerie optique, un étage de mouvement automatisé et une profilométrie de surface pour l'analyse de surface et de défauts. Une grande unité d'imagerie hors axe prend des images pleine puce. Ceci est complété par un étage piézo 3 axes pour ajouter un contrôle de précision lors de la mise au point, de la configuration et de l'acquisition d'images XY. En utilisant la fonction de profilométrie de surface automatisée, une mise au point et un assistant de configuration automatisés aident à réduire le temps de l'opérateur pendant les tests des plaquettes. Il est conçu pour aider au développement et à la caractérisation des caractéristiques de surface et des microstructures. Il utilise le principe de réflexion multiple afin d'acquérir des images avec un bruit de surface et de pixel réduit, permettant une acquisition de données précise. La machine intègre également un module de profilométrie de surface ultra haute résolution pour détecter les petites irrégularités de surface. Des algorithmes avancés sont utilisés pour l'analyse de la topologie de surface et pour mesurer la profondeur et la taille des défauts. Ce module peut également être utilisé pour analyser la géométrie physique des structures, et pour mesurer avec précision les propriétés physiques et électriques. Le logiciel de l'outil offre un large éventail d'outils analytiques puissants, permettant aux chercheurs de visualiser, analyser et rapporter des échantillons de plaquettes rapidement et avec précision. Son interface graphique intuitive permet aux utilisateurs d'analyser facilement les données et de partager les résultats avec d'autres systèmes. En plus de l'acquisition et de l'analyse de données, RUDOLPH META PULSE 200 offre également la possibilité d'exporter des données vers divers progiciels tiers pour un traitement ultérieur. L'actif est une solution économique et fiable pour les essais de wafer et la métrologie, et a été conçu pour répondre aux besoins des fabricants de semi-conducteurs les plus exigeants. Sa précision, sa vitesse et sa flexibilité sont conçues spécifiquement pour fournir des résultats fiables sans sacrifier les performances. C'est le modèle idéal pour mesurer des plaquettes avec une extrême précision.