Occasion RUDOLPH MetaPulse-II 200X-Cu #9395847 à vendre en France

RUDOLPH MetaPulse-II 200X-Cu est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes de pointe conçu pour l'industrie de la fabrication de semi-conducteurs. Le système est basé sur un puissant microscope électronique à balayage 200X (SEM) conçu pour répondre aux exigences les plus élevées des applications les plus avancées. L'unité utilise un sous-système d'imagerie haute résolution, des déflecteurs de haute précision et des détecteurs de spectroscopie d'énergie électronique directe et indirecte, permettant des mesures très précises. Il est capable de fonctionner à des niveaux de courant moyen et faible, avec un minimum de dommages à l'échantillon. La machine comprend également un puissant outil d'automatisation et de gestion des données avec des fonctions de reporting personnalisées, ainsi qu'un atout avancé de mise en scène d'échantillons et deux modèles de chambres interchangeables. Cela permet à l'utilisateur de sélectionner facilement les paramètres de mesure optimaux pour leurs applications spécifiques. En outre, le modèle dispose d'un équipement automatisé de localisation des défauts, permettant aux utilisateurs d'identifier et de caractériser rapidement et avec précision les défauts des plaquettes semi-conductrices, avant et après l'étape de fabrication. La Gaufrette l'Analyseur NanoProbe 200x-Cu, le produit de métrologie le plus avancé dans la famille de MetaPulse, est un microscope électronique lisant rapidement complètement intégré spécifiquement conçu aux mesures de niveau de gaufrette. Il dispose d'une gestion automatisée des plaquettes et de capacités de cartographie par étapes, avec une automatisation automatique à grande vitesse et la capacité de mesurer et de comparer les tailles des fonctionnalités jusqu'à 15 nm. Il offre également des capacités secondaires d'imagerie électronique (SEI) et de faisceau d'ions focalisés (FIB), avec zoom numérique et des fonctionnalités d'amélioration d'image pour permettre une grande variété de mesures de haute précision. Le système MetaPulse-II 200X-Cu est capable d'un large éventail d'examens et d'analyses des plaquettes, y compris l'examen des défauts, la métrologie des dimensions critiques (CD), l'enregistrement et la surveillance des chevauchements, les mesures de résistivité et bien d'autres. En fournissant une plate-forme d'analyse flexible et configurable, l'unité peut être utilisée dans un large éventail d'applications, allant de la mesure des caractéristiques des plaquettes à la vérification des défauts et de la contamination. En conclusion, RUDOLPH MetaPulse-II 200X-Cu est une puissante machine d'essai et de métrologie de plaquettes spécialement conçue pour l'industrie de la fabrication de semi-conducteurs. Il combine un sous-système d'imagerie haute résolution, des déflecteurs de haute précision et des détecteurs de spectroscopie d'énergie électronique pour permettre aux utilisateurs de mesurer et d'analyser avec précision et rapidité les caractéristiques électroniques fines des plaquettes semi-conductrices. L'outil comprend également un atout d'automatisation à grande vitesse, Nérabilité Probe 200X-Cu Wafer Analyzer, et une gamme d'autres grandes fonctionnalités conçues pour fournir aux utilisateurs une plate-forme flexible et configurable pour le test et l'analyse des plaquettes.