Occasion RUDOLPH MetaPulse-III 300XCu #293625425 à vendre en France

L'équipement RUDOLPTH RUDOLPH MetaPulse-III 300XCu d'essai et de métrologie est un outil automatisé de pointe conçu pour aider à la caractérisation et à l'inspection des plaquettes à semi-conducteurs. Il dispose d'une grande plate-forme de plaquettes de 300mm, avec des capacités de balayage améliorées et une précision de mesure élevée. Son approche unique en plusieurs étapes offre un aperçu complet des paramètres et des propriétés des plaquettes, en analysant tous les paramètres pertinents tels que la composition, la cristallinité, la densité des motifs et la douceur de surface. Le système fonctionne en mesurant d'abord des caractéristiques électriques telles que la résistance et la tension, avant d'effectuer une analyse physique détaillée de la plaquette. Ensuite, l'outil est capable de déterminer l'épaisseur, la planéité et d'autres caractéristiques de la plaquette. D'autres détails, tels que l'homogénéité du matériau, peuvent être déterminés à l'aide de l'optique avancée de l'appareil. En outre, la technologie peut identifier des régions de survenue potentielle de défauts et même de variations des propriétés des matériaux. Des vitesses de balayage allant jusqu'à 8 échantillons par balayage sont réalisables, ce qui permet un processus rapide de caractérisation des plaquettes semi-conductrices. De plus, la machine RUDOLPH METAPULSE III 300XCU est capable de mesurer des plaquettes avec une précision de sous microns, avec une résolution minimale de 0,2 μ m. L'outil est également facile à utiliser. Une interface graphique permet aux utilisateurs de contrôler l'actif rapidement et efficacement, ainsi que de revoir et d'analyser les résultats fournis par le modèle. Cette technologie de pointe permet également aux utilisateurs de choisir entre différentes techniques d'analyse automatisées ou manuelles. Outre sa vitesse et sa précision, le RUDOLPTH METAPULSE III 300 XCU offre également une excellente connectivité. L'équipement est compatible avec plusieurs plates-formes logicielles différentes, ce qui permet d'exporter des données et de les comparer facilement et efficacement. Le système permet également le fonctionnement à distance, la surveillance et le contrôle du processus de test automatisé. L'unité de test et de métrologie RUDOLPTH MetaPulse-III 300XCu offre un ensemble complet de caractéristiques, idéales pour identifier et caractériser les plaquettes semi-conductrices. Ses fonctionnalités très avancées et automatisées, combinées à la vitesse et à la précision de la machine, garantissent des résultats supérieurs. L'interface graphique facile à utiliser et l'excellente connectivité de l'outil offrent un moyen facile d'accéder à des données fiables en peu de temps.