Occasion RUDOLPH MetaPulse-III 300XCu #293633969 à vendre en France
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ID: 293633969
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2013
Thickness measurement system, 12"
2013 vintage.
RUDOLPH MetaPulse-III 300XCu est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes haut de gamme. Il sert d'instrument complet pour mesurer et analyser les paramètres critiques des dispositifs, y compris la conductivité, la permittivité, le champ électrique et d'autres propriétés importantes des semi-conducteurs. RUDOLPH METAPULSE III 300XCU est conçu pour une polyvalence maximale, permettant de tester des plaquettes de tailles variables (3 à 6 pouces) sans avoir besoin d'équipements ou d'outils supplémentaires. Sa puissance de calcul avancée facilite des mesures et des rapports précis et cohérents. Le système comporte deux chambres distinctes, permettant des opérations distinctes telles que l'excitation, l'émission et la diffusion dans un environnement contrôlé. L'unité dispose également d'une fonction d'inspection unique, permettant aux utilisateurs d'analyser rapidement et avec précision un spectre de caractéristiques critiques de la minuscule sur chaque plaquette, telles que les différences de topologie ou de composition des matériaux. Il peut fonctionner jusqu'à sept microscopes optiques à pleine résolution simultanément et offre une meilleure efficacité de collecte des données acquises. Au cœur de METAPULSE III 300 XCU se trouve un ensemble de détecteurs propriétaires, conçus pour la meilleure intégration possible des données collectées. Ceci permet des lectures plus précises et une caractérisation plus précise des matériaux semi-conducteurs. Le réseau offre également une précision supérieure en cristallographie et en propriétés de surface globale des plaquettes testées. La machine de test et de métrologie MetaPulse-III 300XCu est l'outil parfait pour mesurer, analyser et caractériser les plaquettes semi-conductrices. Robuste et fiable, il offre une précision, une efficacité et une flexibilité sans précédent dans les essais. Avec sa technologie de pointe, ses options personnalisables et ses détecteurs intégrés, le RUDOLPH METAPULSE III 300 XCU est idéal pour les essais de semi-conducteurs et la métrologie.
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