Occasion RUDOLPH Metapulse XCu #9170417 à vendre en France

RUDOLPH Metapulse XCu
ID: 9170417
Ellipsometer, 8".
L'équipement RUDOLPH Metapulse XCu wafer testing and metrology offre des résultats de haute précision pour les tests de wafer et les applications de métrologie. Avec son matériel et son logiciel intégrés, il offre aux utilisateurs la capacité d'automatiser la production des structures d'interconnexion ultra-petites, haute densité et complexes d'aujourd'hui. Ce système dispose de l'unité brevetée Metapulse Vision Gauging Unit (MVG) pour garantir la plus grande précision des mesures tout en maintenant des opérations rapides. Il comprend également un large éventail de capacités de tests optiques et électriques, permettant à l'utilisateur d'effectuer des images et des mesures de haute qualité. La machine est facile à configurer et l'interface utilisateur est intuitive et conviviale. Il peut être configuré en fonction des besoins de l'utilisateur, avec un accès facile aux composants les plus importants de l'outil. De plus, l'actif est équipé d'un logiciel intégré qui automatise et simplifie la saisie, le stockage et la récupération des données. Ce logiciel peut être utilisé pour générer une variété de rapports qui peuvent être personnalisés et adaptés aux besoins de l'utilisateur. Le modèle fournit une analyse et une caractérisation précises des wafers, ce qui réduit le besoin de post-traitement et d'interprétation manuelle. Il est donc idéal pour les fabricants de garder un contrôle étroit sur leur production. De plus, l'équipement est en mesure de maintenir une cohérence de haute qualité en effectuant des essais en ligne et une métrologie des plaquettes lors de leur passage dans la chaîne de production. Metapulse XCu dispose d'un système de vision en boucle fermée qui permet à l'utilisateur d'analyser plusieurs fonctions en temps réel, y compris les caractéristiques de surface, la dimension critique, l'épaisseur de dépôt et la fusion des plaquettes. Il dispose également de techniques de capture d'images variables et d'imagerie 3D avancées qui permettent une inspection de surface efficace. Les autres utilisations de cette unité comprennent la détection des défauts, les tests de fiabilité et l'analyse de la métrologie des structures d'interconnexion. La machine de test et de métrologie RUDOLPH Metapulse XCu est conçue pour être polyvalente, fiable et facile à utiliser. Grâce à son interface utilisateur intuitive et à sa suite de tests optiques et électriques avancés, les utilisateurs peuvent rapidement déterminer l'intégrité de leurs produits et réduire les risques d'erreurs coûteuses. La précision et la rapidité de cet outil en font un outil précieux pour les essais de plaquettes et les applications de métrologie dans la fabrication de semi-conducteurs.
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