Occasion RUDOLPH Metapulse #9244787 à vendre en France
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ID: 9244787
Style Vintage: 1999
Thin film thickness measurement system
1999 vintage.
RUDOLPH Metapulse est un équipement de pointe d'essai et de métrologie de plaquettes, idéal pour les fabricants de semi-conducteurs et les organismes de recherche à la recherche d'un moyen efficace de tester et d'analyser des échantillons de plaquettes. Ce système est conçu pour la précision, avec des résultats de métrologie fiables et plus de 6000 lectures de paramètres réalisables. RUDOLPH META PULSE utilise des technologies de microscopie acoustique à balayage sans contact (NSAM) et d'imagerie lumineuse structurée sans contact (SLI) pour fournir des résultats précis avec une haute résolution. Chaque unité est équipée de capteurs de haute qualité et d'une machine laser avancée, permettant le test et la mesure automatisés de plaquettes dans une variété de longueurs d'onde. Les outils de métrologie sont conçus pour s'adapter facilement et mesurer un large éventail de matériaux de plaquettes avec précision et rapidité. Les algorithmes avancés permettent à l'outil de prédire avec précision les contraintes de surface des plaquettes et de calculer la profondeur des défauts, ce qui permet d'accélérer les temps de mesure et de fournir des résultats plus précis. En outre, Metapulse fournit aux utilisateurs une multitude de données, qui sont collectées et stockées au fur et à mesure que l'actif fonctionne. Ces données peuvent ensuite être incluses dans un rapport de test, afin que le client puisse facilement voir des informations telles que la planéité des plaquettes, la topographie des plaquettes, ainsi que des images scannées et d'autres caractéristiques physiques. En outre, le modèle dispose d'une interface utilisateur intuitive qui permet aux utilisateurs de configurer et d'exploiter rapidement l'équipement, le rendant parfait pour les utilisateurs de tous les niveaux d'expérience. META PULSE offre également une gamme d'options d'interface, de sorte que les utilisateurs peuvent choisir de voir les images de la plaquette en ligne ou hors ligne, ou les deux. Et, avec plusieurs langages pris en charge, RUDOLPH Metapulse peut être utilisé dans n'importe quel environnement. En résumé, RUDOLPH META PULSE est un système de test et de métrologie de plaquettes haute performance qui peut fournir des résultats précis avec une haute résolution. Il est conçu pour analyser rapidement et facilement une variété de matériaux de wafer, aidant les fabricants et les organismes de recherche à obtenir les résultats de test de wafer les plus précis et efficaces.
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