Occasion RUDOLPH MP 200 #9238325 à vendre en France

RUDOLPH MP 200
ID: 9238325
Taille de la plaquette: 8"
Film thickness measurement system, 8".
RUDOLPH MP 200 est un système d'essai et de métrologie de wafer de qualité professionnelle conçu pour être un élément essentiel de toute installation de fabrication de semi-conducteurs. Il est conçu pour fournir une précision et une traçabilité inégalées et a été développé spécifiquement pour faciliter le test des plaquettes pour les caractéristiques de petit pas et de haut rapport d'aspect. Le système dispose d'un profilomètre optique hautement sensible, leader dans l'industrie, qui utilise l'interférométrie de la lumière blanche pour balayer la surface de la plaquette. Cela mesure la forme et le contour des caractéristiques, ainsi que leur position relative et leur taille. Il est également utilisé pour contrôler l'homogénéité mécanique et superficielle au niveau microscopique. La sortie du capteur est ensuite envoyée à un logiciel puissant et polyvalent qui intègre plusieurs algorithmes avancés pour identifier et mesurer automatiquement des caractéristiques aussi petites que 1 nanomètre. MP 200 comprend également un scatteromètre révolutionnaire « stand alone », qui est conçu pour détecter des images graphiques automatisées à la surface de la plaquette et mesurer leur taille et leur forme. Cet outil peut être utilisé pour effectuer une inspection plus détaillée de la surface de la plaquette et est particulièrement utile pour inspecter des caractéristiques telles que des dispositifs à plus petite surface ou des motifs à haute résolution. Enfin, RUDOLPH MP 200 dispose également d'un système de contrôle de processus multi-capteurs entièrement automatisé conçu pour surveiller et contrôler avec précision tous les processus qui peuvent affecter la qualité d'une plaquette. Cela comprend la température, la pression et l'exposition aux photons et aux faisceaux d'électrons pendant le traitement. Dans l'ensemble, le MP 200 est un outil inestimable pour toute installation de fabrication de semi-conducteurs, offrant un niveau de précision et de traçabilité sans précédent lors de l'essai et de la mesure des plaquettes. Il est très polyvalent dans sa capacité à inspecter des images graphiques, détecter des caractéristiques aussi petites que 1 nanomètre, et surveiller et contrôler avec précision le processus pendant le traitement. Avec ses capteurs multiples et son logiciel puissant mais convivial, RUDOLPH MP 200 est une solution fiable et efficace pour les tests de plaquettes et la métrologie.
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