Occasion RUDOLPH MP 200XCU #293749731 à vendre en France

RUDOLPH MP 200XCU est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie. Il offre une large gamme de mesures avec son ensemble d'outils multi-paramétriques. Le système RUDOLPH MP 200 XCU garantit une précision absolue et une fiabilité supérieure pour la caractérisation des plaquettes. MP 200XCU est conçu avec une architecture modulaire qui est conçue pour une analyse précise des plaquettes à plein débit de production. Il dispose d'un ensemble de faisceaux d'analyse de formes d'onde qui peuvent être configurés pour un certain nombre de mesures de plaquettes différentes, ce qui le rend idéal pour l'analyse en ligne et hors ligne. L'unité est équipée d'une puissante machine d'imagerie, d'un spectromètre très efficace, d'un viseur avancé pour des mesures précises des paramètres et d'autres outils spectroscopiques et d'analyse d'images. MP 200 XCU offre une série de capacités de métrologie qui permettent des essais complets de wafer, y compris la géométrie de surface, l'inspection des défauts et l'interférométrie. La conception optique avancée garantit une précision absolue et une gamme dynamique élevée. L'outil est également capable de cartographier efficacement les caractéristiques de surface et comprend des outils d'analyse sophistiqués tels que les techniques de corrélation croisée et de soustraction d'image. L'actif prend en charge une variété de modes de balayage, y compris des mesures en un seul point et en plusieurs points, qui permettent aux utilisateurs de configurer facilement le modèle pour une performance optimale. Il dispose d'un testeur « X-Y-Z » piloté par un logiciel, qui permet un contrôle automatique de position pendant les mesures de la plaquette. Le logiciel propriétaire, doté d'une interface graphique intuitive, assure un contrôle complet de l'équipement et offre de puissants outils d'analyse de surface. RUDOLPH MP 200XCU est idéal pour la R-D ainsi que pour les environnements de production multi-sites. Son architecture configurable en fait une plate-forme très polyvalente pour optimiser le débit de production et soutenir l'analyse de matériaux à faible rendement. Le système peut être étalonné pour assurer des résultats d'étalonnage cohérents et offre un large éventail d'options d'exportation de données. RUDOLPH MP 200 XCU offre une solution complète de test et de métrologie pour une variété d'industries. Sa conception robuste et ses performances exceptionnelles en font un atout inestimable pour toute organisation qui exige une analyse précise de ses composants de wafer.