Occasion RUDOLPH MP 300 #9257356 à vendre en France

RUDOLPH MP 300 Wafer Testing and Metrology Equipment est une solution automatisée, performante et polyvalente pour le test et la métrologie des wafers semi-conducteurs avancés d'aujourd'hui. Le système offre une large gamme de capacités, y compris, mais sans s'y limiter, la gamme optique sans contact, la topographie de surface, la sonde électrique et l'inspection des défauts. RUDOLPH MP300 offre un interféromètre optique de haute précision pour l'imagerie microscopique 3D dans les tests de wafer de production. Cet interféromètre se compose de plusieurs lasers qui sont utilisés pour mesurer la hauteur et la profondeur des caractéristiques des plaquettes, y compris les bosses, tranchées et autres caractéristiques profondes. La précision de mesure de l'interféromètre est de 10nm, et la plage de grossissement est de 5x à 20,000x. MP-300 est équipé d'une variété de caméras CCD haute résolution et de divers matériels optiques pour l'imagerie 2D précise et l'inspection des défauts. Cette unité fournit également à l'utilisateur des capacités de sondes électriques à grande vitesse grâce à sa technique de mesure sans contact. Il est capable de mesurer les résistances à la trace avec une précision de 1ms et d'enregistrer le courant direct/inverse sur les IC avec une précision de 2ms. MP300 offre également une large gamme de solutions de métrologie, y compris des mesures de topographie de surface, des analyses dimensionnelles et des mesures d'épaisseur de film. Il utilise une caméra CCD haute résolution pour l'imagerie et un laser à résolution nanométrique pour les mesures dimensionnelles. La machine est très fiable et produit des mesures de topographie en plein champ de haute précision avec une précision de 0,7 nm. MP 300 fournit également à l'utilisateur une interface utilisateur intuitive pour le contrôle et l'analyse de l'outil. L'utilisateur peut choisir parmi une variété de paramètres, de modes de test et de techniques de mesure, et l'actif ajustera les paramètres en fonction des exigences de l'utilisateur. Ce modèle convivial permet de réaliser rapidement et efficacement le travail de test et de métrologie. RUDOLPH MP-300 Wafer Testing and Metrology Equipment est une solution avancée et hautement fiable pour le test et la métrologie des wafers semi-conducteurs sophistiqués d'aujourd'hui. Avec sa gamme complète de capacités et de précision, le système RUDOLPH MP 300 est idéal pour des essais rapides et efficaces de plaquettes et de métrologie en production.