Occasion RUDOLPH MP1-300 #9262045 à vendre en France

RUDOLPH MP1-300 Wafer Testing and Metrology Equipment est une solution de test entièrement automatisée qui permet de mesurer rapidement et avec précision les plaquettes de n'importe quelle taille ou forme. Le système est conçu pour faciliter la caractérisation efficace et précise des plaquettes pour un large éventail d'applications, l'automatisation permettant des économies de temps importantes et un niveau de précision accru. MP1-300 dispose d'un design modulaire, permettant des configurations personnalisées adaptées à des applications spécifiques. La modularité de l'unité permet aux utilisateurs d'ajouter, supprimer ou reconfigurer des composants pour plus de flexibilité. La modularité permet également aux utilisateurs de profiter des coûts d'acquisition réduits, ainsi que des coûts de maintenance réduits, en leur permettant d'ajouter des composants uniquement en cas de besoin. Au cœur de RUDOLPH MP1-300 se trouve un puissant étage de microscope optique à balayage (SOM). Cela permet de scanner la plaquette et de prendre des mesures à des profondeurs et résolutions variables. L'ensemble de la machine est bien adapté pour analyser une variété de types et de structures de plaquettes, y compris des couches de plaquettes enterrées, des structures à haut rapport d'aspect, et des surfaces structurées. L'outil est étroitement intégré au nouveau logiciel RUDOLPH, qui automatise l'actif pour la collecte et l'analyse complètes des données. Cela permet aux utilisateurs de mesurer rapidement et précisément les plaquettes et d'effectuer une analyse des données sur leurs données. Le logiciel tient également compte des fluctuations de la température, de l'humidité et de la pression de l'air ambiant lors de la détection des défauts, ce qui permet une meilleure vitesse de détection. MP1-300 est accessible et convivial, avec une interface utilisateur graphique logicielle (UI) qui permet aux utilisateurs de parcourir le processus de configuration et d'étalonnage. L'interface graphique donne également accès à des fonctions telles que la collecte de données, les configurations multiples, l'optimisation automatique de la taille de l'image et du taux de trame, la révision avancée des défauts et des rapports, et plus encore. Dans l'ensemble, RUDOLPH MP1-300 Wafer Testing and Metrology Model est une solution de test automatisée puissante et polyvalente pour la caractérisation des wafers. La conception très modulaire de l'équipement permet des configurations personnalisées faciles, tandis que le logiciel intégré permet une configuration et une analyse des données faciles. Le système est idéal pour analyser une variété de types et de structures de plaquettes, et offre des économies de temps et de coûts significatives par rapport aux essais manuels.