Occasion RUDOLPH MP1-300 #9311177 à vendre en France

RUDOLPH MP1-300
ID: 9311177
Style Vintage: 2007
Film thickness measurement system Process: Metro 2007 vintage.
L'équipement RUDOLPH MP1-300 Wafer Testing and Metrology fournit des tests et des métrologies entièrement automatisés et à haut débit. Ce système est une solution intégrée pour la mise en œuvre de mesures métriques électriques au niveau du dispositif, de tests électriques, d'imagerie et de contrôle optique. MP1-300 est conçu pour répondre à des exigences de production strictes pour l'évaluation et la caractérisation au niveau des plaquettes. Il permet de réduire les délais de production, de réduire les coûts et d'améliorer le contrôle de la qualité. L'unité supporte des tailles de plaquettes de 2 pouces à 8 pouces et couvre à la fois les wafer non associés et les tests et mesures de plaquettes motivées. RUDOLPH MP1-300 est équipé de techniques avancées pour mesurer les paramètres électriques de différents types de transistors et de dispositifs électriques. Il combine des mesures en courant alternatif haute résolution et basse fréquence avec des sondes à plusieurs niveaux de courant pour identifier et caractériser les composants électroniques. La machine mesure avec précision la tension, le courant, le temps, la puissance et d'autres paramètres au niveau de l'appareil. MP1-300 offre une capacité d'inspection optique intégrée qui utilise des caméras CCD pour capturer des images haute résolution de la plaquette. Il est conçu pour détecter les défauts tels que la gravure, la contamination, l'humidité, les particules et d'autres défauts courants qui causent des problèmes de processus. RUDOLPH MP1-300 est supporté par des outils logiciels faciles à utiliser qui facilitent la mise en place et la gestion des tests des plaquettes. L'outil offre également des outils intégrés d'analyse des données et de rapport pour saisir les résultats détaillés des tests et produire des rapports pour une analyse plus approfondie. MP1-300 est conçu avec un degré élevé de flexibilité et peut s'adapter rapidement aux changements dans la conception des plaquettes sans compromettre la précision des essais. Il est idéal pour l'intégration dans une large gamme de lignes de production et de systèmes d'essai dans l'industrie des semi-conducteurs. Avec son acquisition et son débit de données rapides, RUDOLPH MP1-300 est une solution fiable et rentable pour les tests de plaquettes et les applications de métrologie.
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