Occasion RUDOLPH MP1-300XCU #9276771 à vendre en France

RUDOLPH MP1-300XCU est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes de pointe conçu pour répondre aux besoins de l'industrie des semi-conducteurs. Il est optimisé pour une métrologie et une caractérisation rapides et précises des plaquettes. Le système comprend un étage de plaquettes pouvant accueillir des plaquettes jusqu'à 300mm de diamètre et un sous-système intégré de métrologie optique pour mesurer un large éventail de caractéristiques telles que l'épaisseur, la surface et la planéité des plaquettes. La performance de MP1-300XCU est tirée par sa technologie de pointe et ses caractéristiques de pointe de l'industrie. L'unité comprend un moteur linéaire et rotatif propriétaire pour un contrôle de mouvement robuste et fiable, ainsi qu'un contrôleur embarqué de pointe et une optique de précision pour une précision métrologique supérieure. La machine offre également des capacités avancées de vision par ordinateur, y compris l'alignement automatisé des plaquettes grâce à l'apprentissage profond. Les principales caractéristiques de RUDOLPH MP1-300XCU comprennent une conception modulaire pour faciliter la maintenance et la mise à niveau, une source lumineuse multi-longueurs d'onde pour des mesures rapides sans contact, un sous-système d'imagerie de haute précision pour une résolution supérieure, et une interface utilisateur graphique basée sur le Web pour le contrôle intuitif du logiciel. L'outil offre également une large gamme de fonctionnalités logicielles intégrées telles que la surveillance automatisée des paramètres de processus, l'analyse de réussite/défaillance, la traçabilité et l'intégration dans les systèmes de test automatisés des plaquettes. Le logiciel est conçu pour une intégration facile dans les systèmes et programmes existants, et peut être utilisé pour identifier rapidement les défauts et identifier les paramètres de processus. MP1-300XCU est conçu pour répondre aux exigences exigeantes de l'industrie des semi-conducteurs, y compris la mesure des dimensions critiques, la planéité et les caractéristiques critiques. Avec ses performances supérieures et ses caractéristiques robustes, l'actif offre des solutions de test et de métrologie fiables à un large éventail de clients dans le secteur de la fabrication et de l'assemblage de semi-conducteurs.