Occasion RUDOLPH MPIIIA 300 #9411954 à vendre en France

RUDOLPH MPIIIA 300 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes de haute performance, développé par RUDOLPH Technologies. Ce système est spécialement conçu pour le contrôle optique et le test électrique des plaquettes semi-conductrices. MPIIIA 300 est la dernière version de la gamme de produits d'inspection et de métrologie RUDOLPH haute performance. Il facilite la manipulation efficace, précise et rentable des procédés de fabrication des plaquettes. L'unité permet à la fois la métrologie frontale et latérale, ainsi que l'inspection des défauts sans qu'il soit nécessaire de changer les pièces matérielles. RUDOLPH MPIIIA 300 est équipé de technologies de pointe pour fournir une détection fiable des défauts et des mesures précises. Par exemple, il dispose d'une technique de détection de dimensions optiques critiques (OCD) non destructive pour une mesure latérale rapide, précise et non destructive. De plus, la machine utilise une technique brevetée d'inspection 4D pour aider à identifier des largeurs de ligne étroites jusqu'à 60 nanomètres avec une grande précision. MPIIIA 300 dispose également d'une bibliothèque de vision robuste avec un algorithme d'apprentissage adaptatif pour capturer des images des motifs avec une grande précision. Il dispose d'un outil d'imagerie avancé avec un grand champ de vision pour les mesures sur l'ensemble de la plaquette. En outre, l'actif est capable d'imagerie 2D dans la gamme ultraviolette et peut effectuer une métrologie de surface sur la surface de la plaquette. RUDOLPH MPIIIA 300 est hautement personnalisable et pourrait être équipé d'une gamme d'options logicielles et d'accessoires. Toutes ces capacités augmentent ses performances globales sur n'importe quelle application. De plus, RUDOLPH Technologies offre une traçabilité complète de l'étalonnage, un service à la clientèle et un soutien à la clientèle pour garantir la satisfaction de la clientèle. Dans l'ensemble, le MPIIIA 300 est un modèle avancé et rentable d'essai et de métrologie des plaquettes qui optimise la fiabilité et la précision des essais et des processus de métrologie des semi-conducteurs. Ses technologies de pointe et sa flexibilité offrent une gamme d'avantages pour les clients de l'industrie des semi-conducteurs.