Occasion RUDOLPH / ONTO INNOVATION MP3-300XCU #9375220 à vendre en France

RUDOLPH/ONTO INNOVATION MP3-300XCU est un équipement spécialisé d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour caractériser avec précision la surface et l'épaisseur des plaquettes semi-conductrices. C'est un système de métrologie laser avec une optique avancée et une résolution de 10 nanomètres, permettant des mesures précises et sans contact jusqu'à l'échelle du nanomètre. RUDOLPH MP3-300XCU est équipé d'un algorithme de métrologie 3D propriétaire qui fournit des images cartographiques de la surface d'une plaquette. Son processus de balayage automatisé comprend une étape de balayage XY multi-positions pour couvrir toute la surface de la plaquette et une étape d'axe z pour détecter la micro-rugosité et l'épaisseur de la plaquette. La technologie laser de l'unité lui confère des avantages uniques, tels que la détection de caractéristiques de surface fines, la mesure précise des caractéristiques ithlinear, la mesure des hauteurs de pas à plusieurs niveaux et la mesure du profil de hauteur des caractéristiques sub-microns. ONTO INNOVATION Le logiciel MP3-300XCU est à la fois convivial et sophistiqué, permettant aux utilisateurs d'accéder facilement à un large éventail d'options d'analyse et de rapport. L'interface intuitive permet aux utilisateurs de configurer leurs paramètres de mesure de manière personnalisable, d'accéder à une bibliothèque d'images d'écran stockées pour la comparaison ou l'analyse, et de modifier rapidement leurs réglages à la volée en fonction des réactions des mesures de métrologie en temps réel. Avec une machine de suivi intégrée, les utilisateurs peuvent facilement surveiller les activités de traitement de la métrologie en temps réel. L'utilisation de MP3-300XCU procure de nombreux avantages. L'outil offre une approche plus rentable et moins longue pour caractériser les plaquettes, et l'approche sans contact élimine le risque de dommages aux surfaces délicates des plaquettes. La métrologie avancée facilite également l'amélioration de la qualité du produit en capturant et en analysant les différences subtiles dans les plaquettes, en améliorant le rendement et les performances. Avec ses capacités de métrologie laser 3D haut de gamme, RUDOLPH/ONTO INNOVATION MP3-300XCU est un atout idéal pour mesurer avec précision les plaquettes semi-conductrices. Sa résolution optique supérieure, son logiciel convivial et ses capacités de suivi complètes en font l'outil optimal pour des essais complets de wafer et de métrologie.