Occasion RUDOLPH S200 #9157249 à vendre en France

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ID: 9157249
Style Vintage: 2002
Film thickness measurement system Light source: 633 nm 780 nm UVR Computer: P3 Super micro Hard drive size: >30G Memory size: 131072 KB Other video card: Intrique Hard drive: SCSI Jaz drive: Yes CD or CDRW: CDR Board revision / automation: Base IV F/W (GV Base): 11.00     Base Arb F/W  (GV Arb): 7.10 B 088 Optics Arb (GV Optic): 5.10 B 018    Height ver. (GV Height): 4.2 B 011 Robot macro 200mm map, v01.1       Z Chuck type: Normal SECSI 2002 vintage.
RUDOLPH S200 est un équipement d'essai et de métrologie de wafer conçu pour être utilisé dans des laboratoires de recherche, des applications industrielles et des applications d'essai de production. Avec son design innovant, il est capable de mesurer avec précision la résistance électrique et la capacité des plaquettes ultra-minces avec une précision sans précédent. Le système RUDOLPH S 200 dispose d'une tête de mesure de courant de précision de 200mm AFM 6 MHz de 8 bits qui supporte une large gamme de tensions d'essai et jusqu'à 16 points d'échantillonnage répétables. Ceci est combiné avec une unité de nivellement à 2 axes et une base de temps de mesure linéaire, permettant des essais précis et répétables sans contact des plaquettes minces et épaisses. La conception facile à utiliser de la machine dispose également d'un grand écran tactile pour faciliter le fonctionnement. Pour une précision et une répétabilité améliorées, S200 dispose d'une procédure de réduction à zéro négative qui permet de mettre rapidement et précisément la tête d'essai à son origine avant les mesures. Ce procédé permet de mesurer avec précision la réponse de la plaquette au courant appliqué. L'outil dispose également d'un atout de mesure à grande vitesse qui utilise des algorithmes de mesure avancés pour assurer la précision et la répétabilité des données recueillies, même lors de tests à long terme. S 200 dispose également de capacités de métrologie optique haute performance et d'analyse qui permettent l'imagerie de plaquettes ultra-minces et l'analyse détaillée des surfaces sans défaut. À l'aide d'une combinaison de microscopie à diffusion résolue en angle, les défauts sont détectés et mesurés avec précision avec une résolution de sous-microns. De plus, RUDOLPH S200 offre les dernières mesures de plaquettes pour la caractérisation de profondeur de gravure et les mesures de dimensions critiques (CD). Dans l'ensemble, RUDOLPH S 200 offre aux laboratoires de recherche, aux applications industrielles et de tests de production un niveau inégalé de précision et de répétabilité pour les plaquettes fines et épaisses. Sa tête de balayage innovante a été soigneusement conçue pour une précision et une répétabilité optimales, tandis que ses capacités de métrologie et d'analyse optiques haut de gamme permettent à l'utilisateur de détecter et de mesurer rapidement et facilement les défauts de surface et les mesures de CD avec une précision inégalée.
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