Occasion RUDOLPH S3000 #9389592 à vendre en France

RUDOLPH S3000 Wafer Testing and Metrology Equipment est une solution automatisée haut de gamme conçue pour des applications de test et de métrologie dans les industries des semi-conducteurs et de l'optoélectronique. S3000 système offre une plate-forme avec une intégration transparente des logiciels et du matériel pour des tests rapides et précis, la métrologie et l'analyse. Le logiciel est capable de gérer, d'analyser et de présenter des données pour des tests de production et des applications de métrologie automatisés en ligne avec les meilleurs débits. L'unité RUDOLPH S3000 dispose d'une sonde multi-axes à haut débit. L'outil peut être adapté à une variété d'applications de sondes de plaquettes, y compris la décharge électrostatique de sondes (ESD), les mesures électriques, l'ingénierie de micro-contraintes, les tests de contraintes et les mesures de sondes sur les plaquettes semi-conductrices. L'atout est également fourni avec une application logicielle facile à configurer et entièrement intégrée qui permet aux utilisateurs de programmer rapidement des protocoles de mesure. S3000 modèle est couplé à un actionneur linéaire de précision de fabrication suisse qui fournit un mouvement précis, à faible bruit et à faible vibration dans les axes X, Y et Z. Cela permet une meilleure précision et répétabilité des sondages. L'équipement dispose également d'une tête de sonde tactile sensible à 3 axes de plus haute résolution, conçue pour des mesures de haute précision. L'actionneur linéaire contrôlé en position permet au système de traverser la plaquette avec des pas de distance définis avec précision à n'importe quel angle et orientation tandis que le codeur optique assure un balayage précis sans contact sur la surface de la plaquette. L'unité est équipée d'outils avancés d'imagerie, de mesure et d'analyse pour des applications de mesure de tranches transversales sur une variété de matériaux de substrat. Il dispose d'une vaste bibliothèque d'algorithmes de métrologie et d'analyse pour la cartographie, l'inspection, l'imagerie et le calibrage des processus et de la géométrie des produits sur tous les types de plaquettes semi-conductrices. La machine RUDOLPH S3000 prend en charge les cartes et modules de sonde standard et personnalisés ainsi que les adaptateurs de plaquettes et les cellules à plat. Il est également capable d'être facilement intégré à d'autres systèmes de métrologie de bureau comme le Carl Zeiss MMS 5500. Cela garantit une mise en œuvre rapide et un alignement continu des données. S3000 outil est hautement personnalisable, avec une gamme de composants logiciels et matériels qui peuvent être choisis pour répondre aux exigences d'un certain nombre de projets différents. Ce niveau de flexibilité rend RUDOLPH S3000 idéal pour une variété d'applications, telles que le test des wafers pour les propriétés électriques, la contrainte, et d'autres caractéristiques, l'analyse de métrologie, et la surveillance des processus de production.