Occasion RUDOLPH WS 2500 #9096699 à vendre en France
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ID: 9096699
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 2003
Wafer inspection system, 8"
2003 vintage.
RUDOLPH WS 2500 est un équipement d'essai et de métrologie de plaquettes haut de gamme conçu pour fournir des mesures précises des paramètres de plaquettes. Il s'agit d'un système entièrement automatisé avec port de chargement, manutention intégrée des plaquettes, prober des plaquettes et unité de métrologie optique. WS 2500 permet d'évaluer les structures réelles du dispositif et de caractériser une variété de paramètres de processus liés au rendement et à la fiabilité du dispositif fini. RUDOLPH WS 2500 comprend une machine de métrologie optique haute résolution/haute précision pour mesurer les caractéristiques intéressantes de la plaquette. L'outil de métrologie comprend un scanner de précision avec un foyer variable qui est capable de mesurer des tailles de caractéristiques de nano- à microns et des emplacements non uniformes. L'actif a une résolution pouvant atteindre 0,5 nm et une répétabilité de 0,2 nm. Il est équipé d'une variété de modules logiciels et de programmes qui peuvent être utilisés pour analyser les données et concevoir des solutions. Le modèle intégré de manutention de la plaquette est conçu pour assurer un positionnement précis de la plaquette avec un minimum de dégâts et de déchets. L'équipement est équipé d'un chargeur automatique à deux étages, qui permet l'insertion de deux plaquettes à la fois pour un accès et un chargement rapides. Le prober intégré est capable de livrer rapidement des plaquettes en plus des procédures automatisées de mesure des plaquettes. La plaque prober est capable de mesurer de nombreux paramètres, tels que la résistivité et la topographie de surface, avec une grande précision. WS 2500 est idéal pour les entreprises de fabrication de plaquettes cherchant à évaluer les paramètres de processus, diagnostiquer et prévenir les défauts, et assurer le rendement et la fiabilité des dispositifs finis. Le système convient également aux instituts de recherche et aux universités qui cherchent à surveiller les processus et à améliorer le rendement. La conception robuste et les modules logiciels intégrés permettent diverses applications, telles que la rugosité de surface, la caractérisation électrique et optique, la surveillance des processus, l'analyse de planéité et l'analyse statistique. Cela peut être utilisé pour obtenir des informations sur l'optimisation des processus, l'analyse des échecs, le développement de nouveaux produits, et plus encore.
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