Occasion RUDOLPH WS 2500 #9241213 à vendre en France

RUDOLPH WS 2500 Wafer Testing and Metrology Equipment est un système automatisé d'inspection et d'analyse optiques basé sur l'image, conçu pour tester et analyser les wafers semi-conducteurs mi-submicroniques. L'unité utilise l'optique avancée pour mesurer avec précision les surfaces des plaquettes, les défauts et d'autres caractéristiques telles que la rugosité, la topologie de surface, les points de claquage, la taille des grains, la résistivité des semi-conducteurs, l'uniformité, et plus encore. WS 2500 est une machine hautement automatisée, et le processus d'inspection peut être mis en place avec des paramètres prédéfinis et des rapports automatisés. L'inspection est conçue pour minimiser les temps d'arrêt et éliminer les essais et analyses manuels. Il dispose d'une analyse rapide et précise, jusqu'à 50 fois plus rapide que l'analyse manuelle. RUDOLPH WS 2500 comprend des optiques et des capteurs précis qui fournissent aux utilisateurs une imagerie propre et précise, et une interface conviviale pour la configuration et le fonctionnement. L'outil a une diode laser de 590nm qui peut mesurer avec précision l'épaisseur de la plaquette, et une diode laser de 660nm pour l'analyse de surface sans contact. Il dispose également d'une gamme de réglages de mode d'inspection et d'accessoires optionnels pour répondre à toutes les exigences d'essai des plaquettes. WS 2500 est équipé d'un puissant logiciel d'imagerie pour visualiser et analyser les caractéristiques des plaquettes. Le logiciel comprend une gamme d'outils d'analyse tels que la détection de bord, la courbure, la reconnaissance d'image, et des algorithmes robustes optimisés pour la métrologie des fonctions de submicromètre. Il comprend également des outils statistiques avancés pour mesurer les caractéristiques critiques, suivre les tendances et s'assurer que les résultats des tests sont exacts. RUDOLPH WS 2500 offre également des outils et des options de rapports complets. L'actif peut être intégré à des outils d'automatisation pour tester des plaquettes à haut volume, et l'interface utilisateur permet une configuration, un contrôle et une analyse de données faciles. Il s'agit d'une solution fiable et rentable pour le test et l'analyse des plaquettes semi-conductrices à milieu submicronique.