Occasion RUDOLPH WS 3840 #9136132 à vendre en France

ID: 9136132
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2010
Bump inspection system, 12" Granite base air bearing XY stages Vacuum chuck with rotation for 5", 6", 8" and 12" wafers Z Slide for focus control and wafer loading / Unloading OLYMPUS Optical head with 5 positions auto lens turret Bright field lighting Low angle dark field lighting Objective lenses: 1.25x, 2.5x, 5x and 10x 4K TDI Line scan camera & electronics Image frame grabber Dual quad core XENON processor PC based 2D vision engine Computer with 3.2GHz P4 processor RAM: 1GB Hard disk: 250 GB (2) Hot swap bays CDRW / DVDRW Operating system: Window XP Console arm with (2) flat panel color monitors Keyboard and mouse (4) Positions light tower Data analysis and reporting Color defect review Mini-environment fan / Filter units (ISO Class 2) Electronic wafer maps (KLAINF, EF, WWW, Semi G85 and SECS S12) 721713 Option Xport Wafer scanner ISO Class 1 clean high speed wafer handling EFEM outfitted With dual arm robot Wafer thicknesses: (725um) Down to 400 microns thickness for 12" wafers Down to 190 microns thickness for 8" wafers Automated whole wafer handling Dual arm vacuum assist backside wafer handling Minimal contact end effector Integrated laminar clean air flow mini-environment (ULPA Filtration) Robot with integrated mapper 721753 2 Option Bridge load port BROOKS Vision / Cassette pivot, 8" XENON Dual quad processor 2D vision engine 72054 1 Option, 3D Inspection, Hi Res 3D Sensor High resolution: 4 MHz 3D Sensor scans up to a .6mm swath Depth of field: 200um 1U Rack mount chassis Dual INTEL quad-core XENON processor 2.5 GHz DRAM: 2GB SATA Hard disk drive: 250 GB CD ROM Drive Ethernet RUDOLPH PCIDSP Board (5) Microns ultra high resolution 3D sensor 716983 1 Standard, 3D Height Verif Wafer, 100um, 300mm 716810 1 Option, Dual OCR X Port 66807 1 Computer, Remote defect review Wafer capability, 8"-12" Ultra flat chuck: <5 Microns chuck 2010 vintage.
RUDOLPH WS 3840 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour les entreprises de dispositifs semi-conducteurs. Il s'agit d'un système automatisé permettant d'intégrer et d'analyser les données de métrologie provenant de plusieurs appareils de mesure. L'unité consiste en une série de postes de travail performants connectés à un serveur central, chacun traitant et stockant des données de métrologie à partir d'un seul appareil de mesure. Il est capable de traiter plusieurs types de données de métrologie, y compris la zone de la plaquette, le pas, la taille de la matrice et le placement de la matrice. La machine est très précise et répétable, capable de détecter et d'analyser rapidement les changements dans la structure du dispositif. Il dispose également de fonctions d'imagerie 2D avancées pour analyser les nombres de défauts et les caractéristiques des plaquettes telles que les protrusions et le décompte de die. L'outil comprend également une foule d'autres fonctionnalités, y compris des logiciels faciles à utiliser et intuitifs qui permettent aux utilisateurs de configurer et d'accéder rapidement aux données d'analyse. Il dispose également d'un atout basé sur les paramètres qui permet de personnaliser les données d'analyse, les formats de sortie et les préférences des utilisateurs. Pour assurer la précision, le modèle utilise la reconnaissance de motifs pour détecter et analyser de petites variations de conception. Cela inclut l'optique adaptative qui peut ajuster la focalisation ou fournir un éclairage amélioré à travers un réseau de lentilles. L'équipement est construit avec un design robuste, permettant un haut niveau de fiabilité et de durabilité. Il offre également une évolutivité avancée, permettant aux utilisateurs d'effectuer facilement des tâches de métrologie à grande échelle. Enfin, le système offre un haut niveau de sécurité, permettant un accès à distance et des opérations. Il est conforme à plusieurs normes de l'industrie et est livré avec des services de support complets, y compris l'installation, la formation et la maintenance. En conclusion, RUDOLPH WS3840 est une unité de test et de métrologie avancée conçue pour répondre aux besoins des entreprises de dispositifs semi-conducteurs. Il fournit aux utilisateurs une gamme de fonctionnalités et de capacités, permettant des tests de métrologie précis et efficaces.
Il n'y a pas encore de critiques