Occasion SCI FilmTek #9308945 à vendre en France

SCI FilmTek
ID: 9308945
Ellipsometer.
SCI FilmTek est un essai de gaufrette et un système de métrologie conçu au développement et à la fabrication de matériel de semi-conducteur. Ce système offre des capacités de test de haute précision pour évaluer les performances électriques des plaquettes avant leur utilisation dans la réalisation de circuits intégrés. Il est équipé d'un logiciel de pointe pour le contrôle et l'analyse des mesures et le stockage pratique des données de test, ce qui permet aux utilisateurs d'accéder rapidement à l'information et de conserver des enregistrements précis de leurs processus de test. Un des avantages clés de SCI FilmTek est sa capacité de rapidement mesurer et analyser des propriétés de film aux températures différentes sur la même gaufrette. Cela se fait grâce à sa chambre d'essai à température contrôlée avancée, qui réchauffe ou refroidit la plaquette aux températures souhaitées, éliminant la nécessité de déplacer la plaquette dans différents environnements d'essai. Les échantillons peuvent être testés à différentes températures, allant de -200C à + 200C degrés centigrades, et sa caméra autofocante de pointe offre une résolution impressionnante de 3,5 microns. SCI FilmTek est conçu pour mesurer et analyser plusieurs types différents d'épreuves de gaufrette, en incluant la résistance, la capacité, dc le courant, l'essai de courant de fuite et la rugosité de surface. Il offre également une précision de mesure supérieure allant jusqu'à 0.0001Ohm et 0,10 pF sur des mesures de courant continu et de capacité, respectivement. Afin d'assurer le plus haut niveau de précision possible, il est équipé d'options d'étalonnage pour la résistance, la capacité et d'autres types de mesures. En plus de ses capacités de test, SCI CentreTek offre également une variété d'outils qui permettent aux utilisateurs d'effectuer une analyse de données sophistiquée et de générer des rapports détaillés. Son logiciel de visualisation intégré permet aux utilisateurs de visualiser les résultats des tests et les rapports sous forme de graphiques, ce qui facilite l'identification et le dépannage des problèmes potentiels. Il offre également une variété de caractéristiques pour effectuer une analyse statistique sur les données d'essai, comme la capacité de calculer les équations d'ajustement pour déterminer les paramètres électriques des appareils. Ceci permet aux utilisateurs de mieux comprendre les caractéristiques de la plaquette et les dispositifs qu'elle contient. Dans l'ensemble, il s'agit d'un instrument polyvalent et puissant de test de plaquettes qui offre un large éventail de capacités de test, d'analyse et de reporting. Son contrôle de température avancé et sa précision de mesure en font un choix idéal pour le contrôle de processus et le développement de dispositifs dans l'industrie des semi-conducteurs.
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