Occasion SDI SPV 1010 #138847 à vendre en France

SDI SPV 1010 est un équipement d'essai de plaquettes et de métrologie conçu pour fournir des mesures de sous-microns de plaquettes. Utilisant la technologie d'interférométrie optique, la machine peut offrir une grande précision, répétabilité et résolution dans le traitement des semi-conducteurs et les tâches de fabrication. Le système est composé d'un étage d'échantillonnage, d'une source d'éclairage et d'une caméra/unité optique. L'étage d'échantillonnage est capable de manipuler des plaquettes jusqu'à 200 mm de diamètre. La source d'éclairage peut fournir du rétroéclairage, de la lumière de dessus et de la lumière de côté dans le but de faire des essais de planéité, de rainure ou de lieu. La caméra/machine optique contient une caméra CCD, objectif objectif et miroir DMD. Le SPV 1010 facilite également l'analyse de la rugosité de surface et de la qualité de surface en coupe transversale des plaquettes. En utilisant la technique DIPT, on peut mesurer avec précision les mesures nanométrologiques de rugosité de surface, les erreurs de forme de surface et d'autres effets sur la surface des plaquettes. La technologie avancée d'interférométrie basée sur Speckle (SPI) est également utilisée pour les mesures de surface de l'outil. SDI SPV 1010 combine des algorithmes de traitement d'image, y compris des fonctionnalités globales et locales (GLF et LCL), pour déterminer les paramètres les plus appropriés lors de la mesure d'un échantillon. Cela garantit que les mesures sont très précises et fiables. Le matériel de SPV 1010 est intégré à un logiciel qui contrôle le fonctionnement de la machine. Une interface utilisateur graphique intuitive permet un fonctionnement facile par l'utilisateur et toutes les fonctions peuvent être accédées sans connaissance préalable de l'actif. Le logiciel est également capable de collecter et d'afficher des données statistiques à des fins d'analyse. Dans l'ensemble, SDI SPV 1010 est un outil fiable et fiable pour les essais de plaquettes et la métrologie qui peut être utilisé pour scanner de grandes plaquettes, sur la surface cousue et l'alignement d'images optiques. Le modèle a une large gamme d'applications dans l'assurance et l'inspection de la qualité des semi-conducteurs, ainsi que l'optoélectronique et l'industrie microélectronique.