Occasion SDI SPV 300 #9157370 à vendre en France

SDI SPV 300 est un système polyvalent et puissant d'essai et de métrologie de plaquettes conçu pour fournir un aperçu complet d'une gamme complète de produits semi-conducteurs. Doté de systèmes optiques et d'éclairage de pointe, SDI SPV-300 permet une couverture optique inégalée de la surface de la plaquette, assurant ainsi la sensibilité et la précision exactes requises pour chaque composant distinct d'un produit semi-conducteur. SPV 300 utilise la dernière technologie de balayage et d'imagerie pour fournir une couverture complète de la plaquette de test. Ce système de balayage avancé et complet permet l'acquisition d'images haute résolution à des débits de balayage rapides et définis par l'utilisateur. Le processus d'imagerie avancé ainsi que la flexibilité fournie par SPV-300 permet l'acquisition d'images couvrant une grande variété de tailles, de résolutions et de configurations, permettant aux utilisateurs d'analyser la plaquette sur différentes longueurs d'onde. SDI SPV 300 dispose également de capacités avancées de métrologie en temps réel. Cela permet d'analyser et de mesurer en temps réel les caractéristiques du sujet d'essai avec une précision et une précision extrêmes, de permettre l'évaluation des paramètres de l'article d'essai en temps réel et d'éliminer efficacement les articles d'essai qui ne répondent pas aux normes de qualité ou aux exigences requises. En utilisant une combinaison de caméras à haut débit à couplage de charge (CCD) et de systèmes optiques à haut niveau de vaccination, SDI SPV-300 excelle dans les applications d'essai de plaquettes et de métrologie. Ceci est principalement dû au grand nombre de composants miniaturisés qui peuvent être logés sur la plaquette lorsqu'ils sont présentés sous microscope électronique. Il est également capable d'inspecter des plaquettes de très petites tailles, qui autrement ne seraient pas visibles aux microscopes standard ou aux systèmes d'imagerie. L'ensemble de fonctionnalités et les performances impressionnantes du SPV 300 en font une solution idéale pour les essais de plaquettes et les applications de métrologie, en particulier pour les produits semi-conducteurs avec une précision et des exigences de qualité strictes. Sa couverture optique unique et son système d'imagerie haute vitesse permettent aux utilisateurs d'avoir un aperçu inédit du dispositif ou de la caractéristique de la plaquette testée et mesurée. En tant que tel, SPV-300 est bien adapté pour une utilisation dans des applications telles que les appareils IoT, les IC avancés, et toutes autres applications nécessitant une grande précision et qualité.