Occasion SEMCON 1500 #293664306 à vendre en France

ID: 293664306
Wafer plating system.
SEMCON 1500 est un équipement d'essai et de métrologie des plaquettes de nouvelle génération qui a été conçu pour fournir des capacités complètes d'inspection, de mesure et d'essai des plaquettes. Ce système est équipé d'une puissante unité multi-axes pour des mesures précises et répétables. Il dispose d'une machine d'imagerie améliorée avec des capacités d'imagerie avancées, y compris l'imagerie optique à haute résolution, les rayons X et le faisceau d'ions focalisés (FIB). Les capacités d'essai des plaquettes 1500 consistent en une variété d'essais spécialisés conçus pour évaluer toutes les caractéristiques physiques et chimiques d'un échantillon, telles que la fonction électrique, les caractéristiques micro-structurelles, la composition chimique et les propriétés chimiques de surface. Cet outil de test de plaquettes et de métrologie est alimenté par un logiciel propriétaire avec des outils d'analyse et de rapport définis par l'utilisateur. Il comprend également un outil intégré de manutention des plaquettes pour un contrôle précis et un positionnement des plaquettes. Les capacités de métrologie de SEMCON 1500 comprennent des mesures précises des caractéristiques sur les surfaces des plaquettes, qui sont ensuite utilisées pour le contrôle de la qualité et l'amélioration des processus. Ce modèle est capable de fournir des mesures 3D rapides et précises sans contact, ainsi que des analyses quantitatives de surface. Ses capacités de métrologie comprennent la capacité d'accéder à l'information optique et photomicrographique à partir de plaquettes de grande surface. 1500 offre également des capacités avancées d'automatisation et d'intégration des données. Il peut être intégré avec une variété d'outils d'automatisation tiers et est également capable de créer et d'exécuter des scripts personnalisés pour des besoins de tests personnalisés. En outre, cet équipement offre de puissantes fonctions de collecte, d'intégration et de stockage de données, qui permettent aux utilisateurs de suivre et d'analyser les données plus efficacement. Ce système offre un certain nombre de caractéristiques uniques qui le distinguent des autres systèmes de test de plaquettes et de métrologie. Ses capacités d'imagerie avancées permettent aux utilisateurs d'analyser et d'inspecter des structures complexes de plaquettes. Ses capacités de métrologie offrent des mesures précises et répétables. Ses capacités d'automatisation et d'intégration de données le rendent capable de personnaliser les tests et la collecte de données. Toutes ces fonctionnalités se combinent pour offrir une unité de test et de métrologie avancée qui fournit des résultats fiables et précis.
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